中国计量科学研究院陈建获国家专利权
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龙图腾网获悉中国计量科学研究院申请的专利一种可实现宽波段能量探测的TES探测器获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116096216B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211557700.1，技术领域涉及：H10N60/85；该发明授权一种可实现宽波段能量探测的TES探测器是由陈建;王雪深;李万;胡家昊;李劲劲;徐骁龙设计研发完成，并于2022-12-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种可实现宽波段能量探测的TES探测器在说明书摘要公布了：本申请涉及一种可实现宽波段能量探测的TES探测器，包括：热沉；TES主体，设置在热沉的中心；导热薄膜，覆盖在TES主体上，具有两个以上的分支；TES主体的正上方通过环氧树脂将厚度为H6的厚块状超导体材料的主吸收体直接粘结在表面，主吸收体E朝向TES主体的正投影能够遮盖整个TES主体；还包括多个不同规格的吸收体中的一种或多种。本发明的有益效果是：能够兼容多种波段，扩大了TES探测器的适用范围。
本发明授权一种可实现宽波段能量探测的TES探测器在权利要求书中公布了：1.一种可实现宽波段能量探测的TES探测器，其特征在于，包括： 热沉； TES主体，设置在所述热沉的中心； 导热薄膜，覆盖在所述TES主体上，具有两个以上的分支； 所述TES主体的正上方通过环氧树脂将厚度为H6的厚块状超导体材料的主吸收体E直接粘结在表面，所述主吸收体E朝向所述TES主体的正投影能够遮盖整个所述TES主体； 还包括以下吸收体中的一种或多种： 第一吸收体A，所述第一吸收体A通过磁控溅射或电镀H1厚度的第一导热材料在第一分支上形成； 第二吸收体B，所述第二吸收体B通过磁控溅射或电镀H2厚度的第一导热材料在第二分支上形成； 第三吸收体C，所述第三吸收体C通过磁控溅射或电镀H3厚度的第一导热材料+H4厚度的第二导热材料在第三分支上形成； 第四吸收体D，为厚度为H5的厚块状超导体材料，通过环氧树脂粘结在第四分支上； 其中，H1为300～700nm，H2为1～3μm，H3为1～3μm，H4为5～100μm，H5为100～400μm，H6为500～2000μm。
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