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龙图腾网获悉同方威视科技(北京)有限公司;同方威视技术股份有限公司;清华大学申请的专利放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118501927B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310134373.7，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备和介质是由靳增雪;赵崑;吴瑶;胡春煊;李玉兰;张彤设计研发完成，并于2023-02-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备和介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备和介质，该方法包括：获取多个已知核素的本底能谱，其中，本底能谱是放射性探测器对多个已知核素进行探测得到的；对本底能谱进行差分处理，得到道址‑差分图，其中，道址‑差分图包括从多个全能峰信息中确定的多个有效峰信息；根据道址‑差分图确定目标系数，其中，目标系数表征初始能量道址函数式中的一个刻度系数；根据道址‑差分图和初始能量道址函数式，确定目标能量道址函数式，其中，目标能量道址函数式表征放射性探测器的能量刻度。

本发明授权放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种放射性探测器的能量刻度确定方法，包括： 获取多个已知核素的本底能谱，其中，所述本底能谱是所述放射性探测器对多个所述已知核素进行探测得到的； 对所述本底能谱进行差分处理，得到道址-差分图，其中，所述道址-差分图包括从多个全能峰信息中确定的多个有效峰信息； 根据所述道址-差分图确定目标系数，其中，所述目标系数表征初始能量道址函数式中的一个刻度系数； 根据所述道址-差分图和所述初始能量道址函数式，确定目标能量道址函数式，其中，所述目标能量道址函数式表征所述放射性探测器的所述能量刻度， 其中，所述根据所述道址-差分图确定目标系数，包括：从所述道址-差分图中确定目标核素的多个目标区间，其中，所述目标区间包括所述目标核素的多个有效峰信息；根据多个所述目标区间，确定所述目标系数， 所述根据所述道址-差分图和所述初始能量道址函数式，确定目标能量道址函数式，包括：根据每个所述目标区间中与每个所述全能峰信息对应的道址和所述目标核素的已知全能峰能量，在道址-能量坐标系中构建多个坐标点；基于所述目标系数，根据多个所述坐标点对所述初始能量道址函数式进行求解，得到所述目标能量道址函数式。

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