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龙图腾网获悉深圳市众鸿科技股份有限公司申请的专利一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115951202B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310182413.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统是由苏军;林国权;蔡文正设计研发完成，并于2023-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统在说明书摘要公布了：本申请提供一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统，自动检测方法应用于嵌入式芯片的自动检测系统中的主控检测模组，主控检测模组与控制模组相连接，主控检测模组与嵌入式芯片相连接，嵌入式芯片安装有运行状态测试程序，方法包括：主控检测模组接收控制模组发送的系统运行状态检测指令，并基于系统运行状态检测指令控制嵌入式芯片运行运行状态测试程序；接收嵌入式芯片发送的运行运行状态测试程序对应的运行结果；基于运行结果判断嵌入式芯片是否发生故障。本申请通过在嵌入式芯片内预先安装有运行状态测试程序，再根据嵌入式芯片能否正常运行运行状态测试程序，以判断嵌入式芯片是否发生故障，从而使嵌入式芯片的可靠性得到保障。

本发明授权一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种嵌入式芯片的自动检测方法，其特征在于，应用于嵌入式芯片的自动检测系统中的主控检测模组11，所述自动检测系统还包括控制模组12，所述主控检测模组11与所述控制模组12相连接，所述主控检测模组11与所述嵌入式芯片14相连接，所述嵌入式芯片14安装有运行状态测试程序，所述方法包括： 接收所述控制模组12发送的系统运行状态检测指令，并基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片14运行所述运行状态测试程序； 接收所述嵌入式芯片14发送的运行所述运行状态测试程序对应的运行结果； 基于所述运行结果判断所述嵌入式芯片14是否发生故障； 所述基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片14运行所述运行状态测试程序，包括： 基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片14运行所述运行状态测试程序，以使所述嵌入式芯片14获取运行所述运行状态测试程序后生成的第一特征信息，以使所述嵌入式芯片14将所述第一特征信息与运行所述运行状态测试程序前写入的第二特征信息进行比对； 所述基于所述运行结果判断所述嵌入式芯片14是否发生故障，包括： 若所述运行结果指示所述第一特征信息与所述第二特征信息一致，则确定所述嵌入式芯片14未发生故障； 若所述运行结果指示所述第一特征信息与所述第二特征信息不一致，则确定所述嵌入式芯片14发生故障； 所述第一特征信息包括运行所述运行状态测试程序后的日期信息和运行所述运行状态测试程序后的CRC32校验信息，所述第二特征信息包括运行所述运行状态测试程序前写入的日期信息和运行所述运行状态测试程序前写入的CRC32校验信息。

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