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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种基于自适应分区投影的面结构光三维测量方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118746261B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410738975.8，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权一种基于自适应分区投影的面结构光三维测量方法及系统是由钟凯;李中伟;李家乐;黄锦涛;田鸿业;张攀设计研发完成，并于2024-06-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于自适应分区投影的面结构光三维测量方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于自适应分区投影的面结构光三维测量方法及系统，属于三维测量领域，该方法根据互反射表面光路模型中多次反射光线对正弦结构光栅解相干扰的原理，利用投影仪投影和相机抓取图像的交互进行反射辨别，基于反射辨别数据，进行待投影结构光图像的自适应分区，从而分区投影结构光图像、分区进行高精度三维测量，相对于传统的面结构光三维测量，这种改进的测量方法有望解决互反射表面测量失效或测量缺失等测量质量问题，高效高精度地获取互反射表面的三维数据。

本发明授权一种基于自适应分区投影的面结构光三维测量方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于自适应分区投影的面结构光三维测量方法，其特征在于，包括： S1，获取投影仪向待测工件表面投射待投影图像时左相机和或右相机采集的待测工件图像； S2，清空像素块对集合C，根据所述待测工件图像确定左相机和或右相机的第k个像素点的目标像素块，清空像素块集合Bk，并采用相同的划分方式将各所述目标像素块划分为多个子像素块并加入Bk，无重复地添加Bk中的子像素块到子像素块总集合B中，并将Bk中的任意两个子块组成的像素块对无重复地加入像素块对总集合C中；k＝1,2,…,N，N为左相机和或右相机的像素点总数； 其中，所述第k个像素点的目标像素块为目标第一列表中的像素块与Bk中的像素块的交集，所述目标第一列表为上一次迭代得到的多个第一列表中，使所述第k个像素点的灰度值高于灰度阈值的投影图像对应的列表； S3，判断B中各像素块的大小是否均小于阈值，若是则输出B、C进入S4，否则以B中的像素块为节点，以C中的像素块对为边，构建图结构并采用图着色算法进行求解得到多个第一列表；将各所述第一列表中的所有像素块在投影仪的全尺寸纯色图像中的对应区域的像素点开启，其它像素点关闭，得到各所述第一列表对应的图像；分别将各所述第一列表对应的图像作为新的待投影图像，返回S1循环迭代； 其中，第一次迭代时，待投影图像为投影仪的全尺寸纯色图像，Bk仅包括投影仪的一个全尺寸像素块，第一列表中的像素块仅包括投影仪的一张全尺寸纯色图像； S4，以S3输出的B中的像素块为节点，以S3输出的C中的像素块对为边，构建图结构并对其运用图着色算法进行求解得到多个第二列表，将各所述第二列表中的所有像素块在投影仪的全尺寸结构光图像中的对应区域的像素点开启，其它像素点关闭，得到各所述第二列表对应的图像，分别将其作为待投影图像用于投射至待测工件表面，并获取由左、右相机同时采集得到的待测工件图像，计算相位图并进行匹配，重建待测工件的三维点云，将所有重建的三维点云进行融合得到所述待测工件的整体三维点云。

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