中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)艾文思获国家专利权
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龙图腾网获悉中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心)申请的专利一种集成电路中可靠性分析的测试结构获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223308318U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421708277.5，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种集成电路中可靠性分析的测试结构是由艾文思;高宏玲;翟腾;申武鑫;张国杰;郭青帅;马子扬设计研发完成，并于2024-07-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种集成电路中可靠性分析的测试结构在说明书摘要公布了：本实用新型涉及一种集成电路中可靠性分析的测试结构，包括底座，所述底座的顶部端侧通过限定件连接有盖板，所述盖板的端部固定连接有两个限位块，所述限位块的顶部滑动连接有限位柱，所述限位柱的底端穿过所述限位块并与所述底座的顶侧接触。本实用新型涉及集成电路测试的技术领域。该一种集成电路中可靠性分析的测试结构，在进行使用时，可通过锁定件对限位柱进行限位，避免盖板被限定弹簧回拉，设置的限位板对限位块进行限位，避免盖板重新翻转至原位，最终达到了该结构在对盖板进行限位时能够避免受到温度的影响，提高了集成电路在多环境测试时的稳定性。
本实用新型一种集成电路中可靠性分析的测试结构在权利要求书中公布了：1.一种集成电路中可靠性分析的测试结构，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）的顶部端侧通过限定件（2）连接有盖板（3），所述盖板（3）的端部固定连接有两个限位块（4），所述限位块（4）的顶部滑动连接有限位柱（5），所述限位柱（5）的底端穿过所述限位块（4）并与所述底座（1）的顶侧接触，所述底座（1）顶部位于所述限位块（4）的边侧固定连接有限位板（6），所述限位板（6）为U形设置，所述限位板（6）内底侧开设有用于避让所述限位柱（5）的避让槽（7），所述底座（1）的顶侧位于所述限位板（6）的下方设置有锁定件（8）。
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