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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种基于反射极化度的复介电常数测量方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119044613B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411048390.X，技术领域涉及：G01R27/26；该发明授权一种基于反射极化度的复介电常数测量方法及系统是由苏金龙;李红娟;胡飞;朱冬设计研发完成，并于2024-08-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于反射极化度的复介电常数测量方法及系统在说明书摘要公布了：本发明属于毫米波辐射探测技术领域，公开了一种基于反射极化度的复介电常数测量方法及系统，包括：在测试时间[0,t]内，保持待测材料的物理温度不变，使以当前入射角θi入射到待测材料表面的环境辐射处于变化状态，测量当前入射角θi下待测材料的水平极化输出和垂直极化输出；基于所述水平极化输出和垂直极化输出，计算待测材料发射电压的估计值，以估计当前入射角θi下的反射极化度RDoP：改变当前入射角θi，并重复上述步骤，得到各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射极化度RDoP；基于各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射极化度RDoP估计待测材料在当前物理温度下的复介电常数。本发明能够降低复介电常数测量的误差及复杂度。

本发明授权一种基于反射极化度的复介电常数测量方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于反射极化度的复介电常数测量方法，其特征在于，包括： S1、在测试时间[0,t]内，保持待测材料的物理温度Tobj不变，使以当前入射角θi入射到待测材料表面的环境辐射处于变化状态，测量当前入射角θi下待测材料的水平极化输出Vh和垂直极化输出Vv；其中，i取1，2，…，或M，M表示测量的入射角总数； S2、计算待测材料发射电压VE的估计值，并以使得所述估计值自相关度的绝对值最小为估计目标，估计当前入射角θi下的反射极化度RDoP；其中，，pe表示发射极化度； S3、改变当前入射角θi，并重复S1-S2，得到各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射极化度RDoP； S4、基于各入射角θ1，θ2，…，θM下的反射极化度RDoP估计待测材料在当前物理温度Tobj下的复介电常数； S4中，通过下式估计待测材料在当前物理温度Tobj下的复介电常数： 式中，为预设的估计量；表示入射角θi下的反射极化度RDoP；表示待估计参数在入射角θi下的RDoP理论值；待估计参数表示在待测材料大致的复介电常数范围内的第j个复介电常数；其中，待测材料大致的复介电常数范围为已知量，将所述复介电常数范围按照预设的估计量划分为个复介电常数，第j个复介电常数即为。

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