上海新微技术研发中心有限公司汤晓辉获国家专利权
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龙图腾网获悉上海新微技术研发中心有限公司申请的专利一种微型电化学三电极测试芯片获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223308148U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422013649.9，技术领域涉及：G01N27/30；该实用新型一种微型电化学三电极测试芯片是由汤晓辉;谢思佳;陈昌;黎振华;梁冰清设计研发完成，并于2024-08-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种微型电化学三电极测试芯片在说明书摘要公布了：本实用新型提供的一种微型电化学三电极测试芯片，包括有金属电极层的衬底；所述衬底的参比电极层上设置有阵列式位点，所述位点区域暴露出工作电极层以及对电极层；所述参比电极层上设置有第一绝缘层，所述第一绝缘层上开设有多个通孔，多个所述通孔分别与工作电极层、对电极层以及参比电极层连通，连通后的所述通孔区域依次形成工作电极、对电极以及参比电极。该技术方案的有益效果在于，本实用新型的电化学三电极测试芯片使用了微电极阵列技术，实现了三电极的完全微型化及集成，在芯片的每个位点区域都集成了完备的三电极测试功能，每个位点都可以独立并行地进行电化学测试。
本实用新型一种微型电化学三电极测试芯片在权利要求书中公布了：1.一种微型电化学三电极测试芯片，其特征在于，包括有金属电极层的衬底； 所述衬底的参比电极层上设置有阵列式位点，所述位点区域暴露出工作电极层以及对电极层； 所述参比电极层上设置有第一绝缘层，所述第一绝缘层上开设有多个通孔， 多个所述通孔分别与工作电极层、对电极层以及参比电极层连通，连通后的所述通孔区域依次形成工作电极、对电极以及参比电极。
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