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龙图腾网获悉武汉华工正源光子技术有限公司申请的专利基于频域的ADB大灯光学性能检测方法、系统及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119164613B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411238407.8，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权基于频域的ADB大灯光学性能检测方法、系统及设备是由周诚;熊文;冯朝曦;马超男;吴伟;李盼园设计研发完成，并于2024-09-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于频域的ADB大灯光学性能检测方法、系统及设备在说明书摘要公布了：本发明涉及ADB大灯光学检测技术领域，公开了一种基于频域的ADB大灯光学性能检测方法、系统及设备。该方法包括固定待测的ADB大灯并点亮所述ADB大灯，以使所述ADB大灯的各灯珠达到同一固定亮度；基于条带传感器依次获取所述ADB大灯的像方焦平面上各行的灰度数据；根据所述灰度数据进行幅频特性分析，得到频率点的位置；根据所述频率点的位置判断所述ADB大灯是否清晰成像。本发明中，根据幅频特性分析出第一个过零点的频率点位置，将频率点位置作为判断是否清晰成像的指标，从而可以利用ADB大灯LED排布的几何特性，检测其光学性能是否合格，提高了ADB大灯装配检测的准确性，提高了ADB大灯产品品质的一致性。

本发明授权基于频域的ADB大灯光学性能检测方法、系统及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于频域的ADB大灯光学性能检测方法，其特征在于，包括： 固定待测的ADB大灯并点亮所述ADB大灯，以使所述ADB大灯的各灯珠达到同一固定亮度； 基于条带传感器依次获取所述ADB大灯的像方焦平面上各行的灰度数据； 根据所述灰度数据进行幅频特性分析，得到频率点的位置； 根据所述频率点的位置判断所述ADB大灯是否清晰成像； 其中，根据所述灰度数据进行幅频特性分析，得到频率点的位置，包括：基于所述灰度数据进行条带传感器的阻抗匹配、带宽匹配以及信号放大，得到处理后的灰度数据；根据所述处理后的灰度数据得到像方焦平面的灰度值；构建所述像方焦平面的灰度值与所述ADB大灯的物方焦平面的灰度值的线性关系式；基于所述线性关系式以及所述处理后的灰度数据构建像方焦平面的灰度分布图像；对所述灰度分布图像进行幅频特性分析，得到频域特性函数和幅度特性函数；根据所述频域特性函数和所述幅度特性函数确定第一个过零点的频点；将所述第一个过零点的频点作为频率点，并确定所述频率点的位置。

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