武汉锐科光纤激光技术股份有限公司王前聪获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉锐科光纤激光技术股份有限公司申请的专利SAC透镜贴合缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119413410B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411634104.8，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权SAC透镜贴合缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质是由王前聪;苏文毅;于伟;余漫;欧阳超;马商牟司;闫大鹏设计研发完成，并于2024-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本SAC透镜贴合缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种SAC透镜贴合缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括获取经过贴合工艺后的待检测器件的器件图像，待检测器件包括多个SAC透镜，对器件图像进行预处理，得到器件图像中各SAC透镜的位置信息，基于位置信息，对目标SAC透镜进行异常分析，得到分析结果，目标SAC透镜为多个SAC透镜中的任意一个透镜，基于分析结果，确定目标SAC透镜存在的缺陷信息。采用本发明实施例，不仅能够对经过贴合工艺后的待检测器件进行全面的缺陷检测，还能够有效提高SAC透镜贴合缺陷的检测效率。
本发明授权SAC透镜贴合缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种SAC透镜贴合缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 获取经过贴合工艺后的待检测器件的器件图像，所述待检测器件包括多个SAC透镜； 对所述器件图像进行预处理，得到所述器件图像中各SAC透镜的位置信息； 根据目标SAC透镜的第一位置信息，确定所述目标SAC透镜的第一边的两个端点之间的差值，所述第一边为构成所述目标SAC透镜的任意一边； 在所述差值不满足所述第一边对应的差值标准阈值的情况下，确定对所述目标SAC透镜进行异常分析的第一分析结果，所述目标SAC透镜为多个所述SAC透镜中的任意一个透镜； 基于所述第一分析结果，确定所述目标SAC透镜存在的缺陷信息。
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