山东华芯半导体有限公司曹成获国家专利权
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龙图腾网获悉山东华芯半导体有限公司申请的专利一种基于pcie的nand flash颗粒测试系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223308771U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423303782.4，技术领域涉及：G11C29/56；该实用新型一种基于pcie的nand flash颗粒测试系统是由曹成;段好强;王璞设计研发完成，并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于pcie的nand flash颗粒测试系统在说明书摘要公布了：本实用新型涉及nand测试领域，具体是一种基于pcie的nandflash颗粒测试系统。包括主机和测试模块，测试模块包括pcie接口、主控MCU、温控模块、内存dram和底座socket，主控MCU通过pcie接口与主机相连，温控模块、内存dram也与主控MCU相连，主控MCU通过总线连接多个底座socket，待测nandflash设置在底座socket上；主机上设有命令发送模块、错误统计分析模块，测试命令通过pcie接口发送至测试模块，测试模块执行相应测试命令后将执行结果通过pcie返回至主机，错误统计分析模块对执行结果进行统计分析。本实用新型带有高效便捷交互接口pcie，能够提升测试效率。
本实用新型一种基于pcie的nand flash颗粒测试系统在权利要求书中公布了：1.一种基于pcie的nandflash颗粒测试系统，其特征在于：包括主机和测试模块，测试模块包括pcie接口、主控MCU、温控模块、内存dram和底座socket，主控MCU通过pcie接口与主机相连，温控模块、内存dram也与主控MCU相连，主控MCU通过总线连接多个底座socket，待测nandflash设置在底座socket上；主机上设有命令发送模块、错误统计分析模块，测试命令通过pcie接口发送至测试模块，测试模块执行相应测试命令后将执行结果通过pcie返回至主机，错误统计分析模块对执行结果进行统计分析。
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