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龙图腾网获悉佛山职业技术学院申请的专利高光谱图像噪声检测评估方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120182615B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510665064.1，技术领域涉及：G06V10/30；该发明授权高光谱图像噪声检测评估方法及系统是由李建辉;王访;刘满兰设计研发完成，并于2025-05-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本高光谱图像噪声检测评估方法及系统在说明书摘要公布了：高光谱图像噪声检测评估方法及系统，涉及图像处理技术领域，所述方法包括：首先，利用改进的线性迭代聚类方法对原始高光谱图像进行超像素分割，得到多个超像素子块；之后，对每两两超像素子块的光谱反射率序列采用去趋势偏互相关法计算去趋势互相关系数和去趋势偏互相关系数；同时，根据随机生成的高斯白噪声序列，得到噪声序列特征值范围，以此作为高光谱信号噪声范围的参照；最后，将两两超像素子块的去趋势偏互相关系数构建的相关矩阵，对其进行谱分解得到每个预设尺度下的偏相关矩阵特征值，对照噪声序列特征值范围，进而计算得到噪声比例值和去噪后的去趋势偏互相关系数矩阵；本申请能够优化高光谱图像的噪声检测评估的准确性。

本发明授权高光谱图像噪声检测评估方法及系统在权利要求书中公布了：1.高光谱图像噪声检测评估方法，其特征在于，所述方法包括： 利用改进的线性迭代聚类方法对初始高光谱图像进行超像素分割处理，得到多个超像素子块； 计算任两个超像素子块的光谱反射率序列的去趋势互相关系数，得到去趋势互相关系数矩阵；去趋势互相关系数矩阵包含多个不同预设尺度下的去趋势互相关系数，去趋势互相关系数用于度量两个光谱反射率序列在同一预设尺度时的相关性强弱； 基于去趋势互相关系数矩阵的逆矩阵，计算任两个超像素子块的光谱反射率的第一去趋势偏互相关系数，得到第一去趋势偏互相关系数矩阵；第一去趋势偏互相关系数矩阵包含多个不同预设尺度下的第一去趋势偏互相关系数，第一去趋势偏互相关系数用于评估两个光谱反射率在同一预设尺度时的真实相关性； 根据随机生成的多个高斯白噪声序列，计算任两个高斯白噪声序列的第二去趋势偏互相关系数，得到第二去趋势偏互相关系数矩阵；第二去趋势偏互相关系数用于评估两个高斯白噪声序列在同一预设尺度时的真实相关性；对第二去趋势偏互相关系数矩阵进行谱分解处理，得到多个不同预设尺度下的噪声序列特征值范围； 对第一去趋势偏互相关系数矩阵进行谱分解处理，并以噪声序列特征值范围作为参照值，计算得到去噪后的目标去趋势偏互相关系数矩阵以及每个超像素子块的噪声比例，以后续进行高光谱图像分析。

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