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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利回转元件光学系统中误差元件的最优位错角求解方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120217734B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510700157.3，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权回转元件光学系统中误差元件的最优位错角求解方法是由李龙响;刘夕铭;李兴昶;程强;张峰;张学军设计研发完成，并于2025-05-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本回转元件光学系统中误差元件的最优位错角求解方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学加工技术领域，尤其涉及一种回转元件光学系统中误差元件的最优位错角求解方法，方法包括：获取元件表面误差，把误差加载到光学设计软件中进行系统成像分析，确定关注光学性能指标；改变元件摆放相对角度重复进行成像分析，并记录关注光学性能指标的数值，性能数值最优的角度即最优摆放角度。本发明提供的方法使得大量的调试工作在仿真层面完成，大幅度缩减现场装调时间。

本发明授权回转元件光学系统中误差元件的最优位错角求解方法在权利要求书中公布了：1.一种回转元件光学系统中误差元件的最优位错角求解方法，其特征在于，包括： S1：确定带有回转型光学元件的光学系统，并获取回转型光学元件的真实面形图； S2：构建步骤S1的光学系统的光学仿真模型，并将步骤S1得到的真实面形图加载到所述光学仿真模型中对应的回转型光学元件上，过程包括：将真实面形图与对应的回转型光学元件的表面进行对应元素相加；将相加后的结果后写成网格矢高文件，将网格矢高文件作为光学元件的表面加载到光学仿真模型中； S3：在步骤S2得到的光学仿真模型的基础上，旋转回转型光学元件，得到不同旋转角度对应的当前光学仿真模型，并对当前光学仿真模型进行光学分析，过程包括：设定光学分析的光学性能指标；根据所述光学性能指标，对当前光学仿真模型进行对应的光学仿真模型性能指标测试，得到对应的光学性能指标值；此过程表示为： K lk∈{K1,K2,...,Kk|K1∈Ω SPT,K2∈Ω wave,...,Kk∈Ω PSF}； 其中，k表示光学性能指标值的个数，K lk表示光学仿真模型发生l次回转型光学元件的旋转后，此时的光学仿真模型在进行光学分析得到的第k项光学性能指标值，Ω SPT表示点列图指标的取值空间，Ω wave表示波像差指标的取值空间，Ω PSF表示点扩展函数指标的取值空间； S4：对步骤S3得到的分析结果确定所述回转型光学元件的最优位错角；在步骤S4中：取步骤S3得到的光学性能指标值中的最优光学性能指标值；在所述最优光学性能指标值下，每个回转型光学元件转过的旋转角度即为每个回转型光学元件的最优位错角。

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