上海安其威微电子科技有限公司徐启明获国家专利权
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龙图腾网获悉上海安其威微电子科技有限公司申请的专利兼容芯片进行静电放电测试和射频测试的测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120254573B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510724404.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权兼容芯片进行静电放电测试和射频测试的测试装置是由徐启明;徐凌;陈喜凤设计研发完成，并于2025-05-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本兼容芯片进行静电放电测试和射频测试的测试装置在说明书摘要公布了：本申请提出了一种兼容芯片进行静电放电测试和射频测试的测试装置，所述测试装置包括：第一测试板，包括：芯片放置区域，用于放置待测芯片；多个第一排针孔，用于与所述待测芯片的引脚电连接，所述引脚包括射频输入引脚和电压输入引脚；第二测试板，包括：外围电路区域，用于放置所述待测芯片的外围电路；多个第二排针孔，连接到多个所述第一排针孔，多个所述第二排针孔中包括电压排针孔和射频排针孔，所述电压排针孔用于连接所述外围电路，并通过所述第一排针孔连接所述电压输入引脚；所述射频排针孔用于连接射频测试仪，并通过所述第一排针孔连接所述射频输入引脚。
本发明授权兼容芯片进行静电放电测试和射频测试的测试装置在权利要求书中公布了：1.一种兼容芯片进行静电放电测试和射频测试的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括： 第一测试板，用于进行静电放电测试，包括： 芯片放置区域，用于放置待测芯片； 多个第一排针孔，用于与所述待测芯片的引脚电连接，所述引脚包括射频输入引脚和电压输入引脚； 第二测试板，用于与所述第一测试板共同进行射频测试，包括： 外围电路区域，用于放置所述待测芯片的外围电路； 多个第二排针孔，通过第一排针与多个所述第一排针孔可拆卸连接，多个所述第二排针孔中包括电压排针孔和射频排针孔，所述电压排针孔用于连接所述外围电路，并通过所述第一排针孔连接所述电压输入引脚；所述射频排针孔用于连接射频测试仪，并通过所述第一排针孔连接所述射频输入引脚。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海安其威微电子科技有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1387号07幢；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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