巨霖科技(上海)有限公司胡力伟获国家专利权
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龙图腾网获悉巨霖科技(上海)有限公司申请的专利一种集成电路的仿真测试方法及装置、系统、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120278104B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510764237.5，技术领域涉及：G06F30/367；该发明授权一种集成电路的仿真测试方法及装置、系统、存储介质是由胡力伟;孙家鑫设计研发完成，并于2025-06-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种集成电路的仿真测试方法及装置、系统、存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种集成电路的仿真测试方法及装置、系统、存储介质，所述方法包括获取集成电路的测试参数表，根据测试参数表生成实验设计表，实验设计表包括若干测试实验，每组测试实验规定了所有测试参数的取值；获取集成电路的网表模板，网表模板包含可变的参数，可变的参数与测试参数一一对应；根据每组测试实验中所有测试参数的取值给网表模板中对应的可变的参数赋值，得到与测试实验对应的网表；获取网表下集成电路的仿真结果，记为测试实验的仿真结果。本发明可以基于测试参数表和网表模板自动生成测试实验和对应的网表，仿真结束后自动收集仿真结果，提高了测试过程的自动化程度，提高了集成电路的仿真测试效率。
本发明授权一种集成电路的仿真测试方法及装置、系统、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种集成电路的仿真测试方法，其特征在于，包括： 将所述集成电路待测试的参数作为二级参数，所述二级参数所属的类作为一级参数； 获取所述集成电路的测试参数表，所述测试参数表包括若干所述一级参数及其属性，所述一级参数包含的二级参数以及与所述一级参数的属性对应的所述二级参数用于仿真测试的取值； 将所述一级参数作为实验设计的因子，根据所述测试参数表的一级参数及其属性生成所述集成电路的实验设计表，所述实验设计表包括若干测试实验，每组测试实验规定了所有一级参数的属性； 获取所述集成电路的网表模板，所述网表模板包含可变的参数，所述可变的参数与所述二级参数一一对应； 根据每组测试实验中所有一级参数的属性确定所述测试实验对应的所有二级参数的取值； 根据所述测试实验对应的所有二级参数的取值给所述网表模板的可变的参数赋值，得到与所述测试实验对应的网表； 获取所述网表下所述集成电路的仿真结果，记为所述测试实验的仿真结果。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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