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深存科技(无锡)有限公司请求不公布姓名获国家专利权

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龙图腾网获悉深存科技(无锡)有限公司申请的专利面板灰尘与缺陷检测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120471927B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510977601.6,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权面板灰尘与缺陷检测方法、装置、设备及存储介质是由请求不公布姓名设计研发完成,并于2025-07-16向国家知识产权局提交的专利申请。

面板灰尘与缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了:本申请公开面板灰尘与缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,涉及图像识别领域。通过AOI机台拍摄待测面板在测试光源下的报点光照图和无光源下的报点无光图,识别报点光照图中包含的所有疑似缺陷点;进而从两个报点图中裁剪出光照待检子图和无光待检子图,并进行阈值二值化处理,从二值化图像中提取缺陷轮廓;根据无光待检子图中缺陷轮廓的像素面积筛选疑似灰尘点,将两个待检子图中对应疑似灰尘点的缺陷轮廓进行相似度匹配,根据匹配结果确定出灰尘点与真实缺陷点。通过多光源条件下的图像特征对比与几何形态匹配机制,结合缺陷轮廓的像素面积筛选与跨光源相似度分析,有效区分因环境干扰产生的假缺陷与面板本体缺陷。

本发明授权面板灰尘与缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种面板灰尘与缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括: 通过自动化光学检测AOI机台拍摄待测面板在测试光源下的报点光照图,在识别报点光照图中的疑似缺陷点时,获取所述待测面板在无光源下的报点无光图; 获取所述待测面板在不同测试光源下的报点光照图,轮询其中所有疑似缺陷点,并建立所述疑似缺陷点与所属报点光照图的映射关系;在识别阶段轮询报点光照图,将所有已确定灰尘点与真实缺陷点标记到所有未识别报点光照图中;根据已确定灰尘及缺陷坐标过滤所述未识别报点光照图中相同位置的疑似缺陷点,基于剩余疑似缺陷点裁剪出对应的光照待检子图和无光待检子图; 分别对所述光照待检子图和所述无光待检子图进行阈值二值化处理,并从二值化图像中提取缺陷轮廓; 根据所述无光待检子图中缺陷轮廓的像素面积筛选疑似灰尘点,并将所述光照待检子图和所述无光待检子图中对应所述疑似灰尘点的缺陷轮廓进行相似度匹配,包括计算轮廓形状参数与面积参数的相似度值,根据相似度值匹配结果确定出灰尘点与真实缺陷点;其中的轮廓形状参数包括Hu矩值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人深存科技(无锡)有限公司,其通讯地址为:214000 江苏省无锡市新吴区弘毅路10号金乾座401、402室;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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