富士电机株式会社松并和宏获国家专利权
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龙图腾网获悉富士电机株式会社申请的专利半导体装置以及传感器装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112242167B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010446844.4，技术领域涉及：G11C16/04；该发明授权半导体装置以及传感器装置是由松并和宏;嶋津胜博设计研发完成，并于2020-05-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体装置以及传感器装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种半导体装置以及传感器装置。其对修正用存储器的劣化进行检测。该半导体装置具备：修正用存储器，其存储有对修正对象进行修正的修正用数据；修正部，其使用从修正用存储器读取出的修正用数据，对传感器元件的检测值进行修正；诊断部，其使用从修正用存储器读取出的修正用数据，对修正用存储器进行诊断；以及控制部，其对从修正用存储器读取修正用数据时的读取条件进行控制，控制部使第一读取条件与第二读取条件不同，第一读取条件是读取用于修正的修正用数据时的读取条件，第二读取条件是读取用于诊断的修正用数据时的读取条件。
本发明授权半导体装置以及传感器装置在权利要求书中公布了：1.一种半导体装置，其特征在于，具备： 修正用存储器，其存储有对修正对象进行修正的修正用数据； 修正部，其使用从所述修正用存储器读取出的所述修正用数据，对所述修正对象进行修正； 诊断部，其使用从所述修正用存储器读取出的所述修正用数据，对所述修正用存储器进行诊断；以及 控制部，其对从所述修正用存储器读取所述修正用数据时的读取条件进行控制， 所述控制部使第一读取条件与第二读取条件不同，所述第一读取条件是读取用于对修正对象进行修正的所述修正用数据时的读取条件，所述第二读取条件是读取用于所述诊断的所述修正用数据时的读取条件， 所述修正用存储器具有： 控制栅极，其被施加栅极电压； 输出端子，其输出值根据施加于所述控制栅极的所述栅极电压是否在阈值电压以上而变化； 浮置栅极，其蓄积与所述修正用数据的值对应的电荷，并通过蓄积电荷使所述阈值电压变化；以及 电流源，其连接于所述输出端子，且规定阈值电流， 所述控制部使为了读取所述修正用数据而施加于所述控制栅极的所述栅极电压和所述阈值电流在所述第一读取条件下与在所述第二读取条件下不同。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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