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龙图腾网获悉中兴光电子技术有限公司申请的专利二维耦合光栅结构及其串扰测试结构获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114384617B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011111129.1，技术领域涉及：G02B5/18；该发明授权二维耦合光栅结构及其串扰测试结构是由杨旻岳设计研发完成，并于2020-10-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本二维耦合光栅结构及其串扰测试结构在说明书摘要公布了：本发明公开了一种二维耦合光栅结构及其串扰测试结构，该二维耦合光栅结构包括：主体和光栅阵列，主体包括相互垂直的第一入射面和第二入射面；光栅阵列设置于主体中，光栅阵列中的光栅分别沿第一方向和第二方向分布，第一方向垂直于第一入射面的方向，第二方向为垂直于第二入射面的方向，光栅阵列中沿第一方向的光栅周期和沿第二方向的光栅周期互不相同；光栅阵列用于使第一光信号和第二光信号正交偏振耦合后输出，第一光信号为从第一入射面输入的光信号，第二光信号为从第二入射面输入的光信号。由于光栅周期不同，偏振后的第一光信号和第二光信号的中心波长互不相同，使得耦合后的输出光信号的总光谱响应更宽，减少光栅带宽对光信号衰减的影响。

本发明授权二维耦合光栅结构及其串扰测试结构在权利要求书中公布了：1.一种串扰测试结构，包括： 输入偏振结构，所述输入偏振结构中设置有偏振光栅； 测试元件，所述测试元件的输入端通过第三波导与所述输入偏振结构相连接，所述测试元件包括至少一个输出端，所述测试元件的输出端连接有二维耦合光栅结构； 分光元件，所述分光元件的输入端与所述测试元件的输出端通过第四波导相连接； 所述分光元件用于根据预先设定的分光比将所述测试元件一个输出端所输出的光信号分为第一光信号和第二光信号； 其中，所述二维耦合光栅结构包括： 主体，所述主体包括第一入射面和第二入射面，所述第一入射面和所述第二入射面相互垂直，所述分光元件的输出端分别与所述第一入射面和所述第二入射面相连接； 光栅阵列，所述光栅阵列设置于所述主体中，所述光栅阵列中的光栅分别沿第一方向和第二方向分布，所述第一方向垂直于所述第一入射面的方向，所述第二方向为垂直于所述第二入射面的方向，所述光栅阵列中沿所述第一方向的光栅周期和沿所述第二方向的光栅周期互不相同； 所述光栅阵列用于使第一光信号和第二光信号正交偏振耦合后输出，所述第一光信号为从所述第一入射面输入的光信号，所述第二光信号为从所述第二入射面输入的光信号。

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