超威半导体公司蒂姆·佩利获国家专利权
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龙图腾网获悉超威半导体公司申请的专利调试状态机触发的扩展性能监控计数器获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114902059B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202080091140.8,技术领域涉及:G01R31/317;该发明授权调试状态机触发的扩展性能监控计数器是由蒂姆·佩利设计研发完成,并于2020-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本调试状态机触发的扩展性能监控计数器在说明书摘要公布了:一种集成电路IC[100]包括调试控制器[102]、调试状态机DSM[104]和扩展性能监控计数器EPMC[106]。该调试控制器在调试互连件[110]上选择性地输出调试数据。该DSM基于调试数据和事件列表[304]识别事件并输出识别该事件的DSM指示[124]。该EPMC指示包括所识别的事件的多个检测到的事件。该EPMC响应于该DSM指示来指示所识别的事件。
本发明授权调试状态机触发的扩展性能监控计数器在权利要求书中公布了:1.一种集成电路[100],所述集成电路包括: 调试控制器[102],所述调试控制器被配置为在调试互连件[110]上选择性地输出调试数据[122]; 调试状态机[104],所述调试状态机被配置为: 基于所述调试数据和可编程事件信息识别事件;并且 响应于识别到所述事件在互连件112上输出调试状态机指示[124];以及 包括一个或多个硬件计数器的扩展性能监控计数器[106],所述扩展性能监控计数器被配置为: 指示由所述集成电路的一个或多个设备进入的一个或多个功率状态的计数;和 基于经由所述互连件接收的所述调试状态机指示来指示所述一个或多个设备在所述一个或多个功率状态中花费的周期的数量。
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