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龙图腾网获悉中科超精(南京)科技有限公司申请的专利一种X射线图像校正方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117665900B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311682374.1，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权一种X射线图像校正方法及系统是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2023-12-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种X射线图像校正方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种X射线图像校正方法及系统，所述X射线图像校正方法包括：模拟X射线球管管电压能量为E的X射线能谱分布；按照能谱划分步长将X射线能谱分布划分成若干个单能的子能谱；模拟各个子能谱X射线穿过不同贯穿长度L的被检测物体的光子通量；将子能谱的光子通量转换成投影值P；将贯穿长度L与各子能谱加权后的投影值P进行多项式拟合；利用得到贯穿长度L和投影值P的拟合曲线校正实际的多能投影值Pm，得到理想的单能投影值Ps，实现X射线图像的硬化校正。本发明的一种X射线图像校正方法，基于蒙卡模拟克服了硬化校正对实验条件所限制的问题，具有灵活性高、模拟精度高的优势，能有效提高重建图像的均匀性。

本发明授权一种X射线图像校正方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种X射线图像校正方法，其特征在于，包括： 模拟X射线球管管电压能量为E的X射线能谱分布； 按照能谱划分步长将X射线能谱分布划分成若干个单能的子能谱； 模拟各个子能谱X射线穿过不同贯穿长度L的被检测物体的光子通量； 将子能谱的光子通量转换成投影值P； 将贯穿长度L与各子能谱加权后的投影值P进行多项式拟合； 利用得到贯穿长度L和投影值P的拟合曲线校正实际的多能投影值Pm，得到理想的单能投影值Ps，实现X射线图像的硬化校正； 所述模拟各个子能谱X射线穿过不同贯穿长度L的被检测物体的光子通量利用蒙卡模拟，包括： 光子通量分布模拟几何建模，创建表示光子源的第一几何体，创建表示被检测物体的第二几何体，创建表示探测器平板的第三几何体和第四几何体，所述的第二几何体、第三几何体和第四几何体依次排布在第一几何体的一侧，所述第四几何体布置在距离第一几何体Smax位置处，其中，所述Smax表征距离光子源无穷远位置，所述第二几何体的厚度设置表征被检测物体的贯穿长度L； 光子通量分布模拟物理建模，为第二几何体、第三几何体和第四几何体模型选择相应的材料，源建模设置源粒子类型为光子源，光子源为固定点源并设置点的坐标值，设置光子源的能量为单能，大小为X射线能谱分布划分成若干个单能的子能谱的大小，设置光子源的方向参数为各向异性，光子源单方向出射； 光子通量分布模拟计数建模，计数粒子类型为光子，计数栅元号为用于计数的几何模型栅元号，统计光子源单能射束穿过物体光子数； 所述将子能谱的光子通量转换成投影值P包括： 将蒙卡模拟各单能X射线穿过被检测物体后得到光子通量，将单能射束模拟的光子通量转成探测器平板响应，利用探测器平板响应正比于射线强度，累加归一化后计算得到投影值，探测器平板响应计算公式为 其中，i表示能群，t表示厚度，μi表示第i个能群对应被检测物体的质量衰减系数，μen，i表示第i个能群对应CsI的质量能量吸收系数，Φi，0表示蒙卡模拟的第i个能群透过厚度为t的光子通量，表示第i个能群的平均能量，Ii，t表示第i个能群透过厚度为t的水层在CsI探测器吸收的能量，Ii，t正比于探测器平板响应，将i个能群的Ii，t进行累加做归一化处理得到It，表示加权后的多能X射束透过厚度为t的被检测物体在CsI测探测器吸收的能量，计算公式如下： 利用平板亮度计算投影值，公式如下： 其中，I0表示入射射线强度。

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