苏州零度感知科技有限公司丁雪峰获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州零度感知科技有限公司申请的专利一种带有悬浮验证结构的红外焦平面探测器芯片结构获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223295531U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422390440.4，技术领域涉及：G01J5/20；该实用新型一种带有悬浮验证结构的红外焦平面探测器芯片结构是由丁雪峰;赵玉杰;左元呈;解纯钢设计研发完成，并于2024-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种带有悬浮验证结构的红外焦平面探测器芯片结构在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种带有悬浮验证结构的红外焦平面探测器芯片结构，该带有悬浮验证结构的红外焦平面探测器芯片结构包括ROIC晶圆、悬浮验证结构、像元桥面层和红外吸收伞层，其中，悬浮验证结构设置于ROIC晶圆表面，像元桥面层设置于悬浮验证结构上，红外吸收伞层设置于像元桥面层上；悬浮验证结构包括电介质层和电阻层，电阻层分为两部分，一部分是悬浮验证结构的加热电阻，另一部分是替代像元电阻结构。本实用新型能将ROIC和MEMS产生的不良问题分开验证，提升红外焦平面探测器像元的响应率，悬浮验证结构对像元的热学、电学参数无影响。
本实用新型一种带有悬浮验证结构的红外焦平面探测器芯片结构在权利要求书中公布了：1.一种带有悬浮验证结构的红外焦平面探测器芯片结构，其特征在于，所述带有悬浮验证结构的红外焦平面探测器芯片结构包括ROIC晶圆、悬浮验证结构、像元桥面层和红外吸收伞层，其中，所述悬浮验证结构设置于所述ROIC晶圆表面，所述像元桥面层设置于所述悬浮验证结构上，所述红外吸收伞层设置于所述像元桥面层上； 所述悬浮验证结构包括电介质层和电阻层，所述电阻层分为两部分，一部分是悬浮验证结构的加热电阻，另一部分是替代像元电阻结构； 所述悬浮验证结构的电介质层的材料包括Si3N4或者SiO2。
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