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龙图腾网获悉中国石油大学(华东)申请的专利定量刻画少井区不同类型烃源岩展布的方法与系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120195736B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510614716.9，技术领域涉及：G01V1/28；该发明授权定量刻画少井区不同类型烃源岩展布的方法与系统是由刘华;苏高翔;程斌;孟祥雨;马大钧;苏婷;孙杰设计研发完成，并于2025-05-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本定量刻画少井区不同类型烃源岩展布的方法与系统在说明书摘要公布了：本申请属于油气勘探开发技术领域，涉及一种定量刻画少井区不同类型烃源岩展布的方法与系统，方法步骤为：获取目的层叠后地震体、沉积相图、声波时差测井数据和密度测井数据；通过截取叠后地震体得到的地震剖面图得到不同沉积相对应的烃源岩地震反射特征；利用沉积相图分析烃源岩类型，根据利用烃源岩地震反射特征预测的不同类型烃源岩发育特征与沉积相刻画目的层中不同类型烃源岩平面分布；根据叠后地震体得到目的层的残余地层厚度，预测目的层的地层砂地比，根据残余地层厚度与地层砂地比刻画目的层中烃源岩厚度分布；将烃源岩平面分布与烃源岩厚度分布耦合分析得到烃源岩空间展布。本申请定量刻画少井区不同类型烃源岩展布。

本发明授权定量刻画少井区不同类型烃源岩展布的方法与系统在权利要求书中公布了：1.一种定量刻画少井区不同类型烃源岩展布的方法，其特征在于，其步骤为： 数据获取步骤：获取目的层叠后地震体、沉积相图、声波时差测井数据和密度测井数据； 数据处理步骤：截取叠后地震体得到地震剖面图，通过地震剖面图得到不同沉积相对应的烃源岩地震反射特征； 烃源岩平面分布刻画步骤：利用沉积相图分析烃源岩类型，利用烃源岩地震反射特征预测不同类型烃源岩发育特征，根据不同类型烃源岩发育特征与沉积相刻画目的层中不同类型烃源岩平面分布； 烃源岩纵向厚度分布刻画步骤：根据叠后地震体得到目的层的残余地层厚度，根据叠后地震体、声波时差测井数据和密度测井数据采用地震反演法预测目的层的地层砂地比，或根据叠后地震体采用地震属性分析法预测目的层的地层砂地比，根据残余地层厚度与地层砂地比刻画目的层中烃源岩厚度分布；根据残余地层厚度与地层砂地比计算目的层中烃源岩厚度的计算公式表示为： 烃源岩厚度=残余地层厚度×（1–地层砂地比） 烃源岩展布步骤：将烃源岩平面分布与烃源岩厚度分布耦合分析得到烃源岩空间展布。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国石油大学(华东)，其通讯地址为：257061 山东省东营市东营区北二路271号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。