合肥康芯威存储技术有限公司许建强获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种闪存宽温的筛选方法及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120452520B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510923324.0，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种闪存宽温的筛选方法及存储介质是由许建强;陈文涛设计研发完成，并于2025-07-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种闪存宽温的筛选方法及存储介质在说明书摘要公布了：一种闪存宽温的筛选方法及存储介质，包括：对原厂颗粒进行宽温筛选，将原厂颗粒分为多个读取错误位阈值的测试样本；根据多个读取错误位阈值的测试样本得到测试样本的初始良率；对测试样本进行全盘磨损处理，当全盘磨损的次数达到第一指定磨损次数时，对测试样本进行第一宽温验证，得到测试样本的第一良率；当全盘磨损的次数达到第二指定磨损次数时，对测试样本进行第二宽温验证，得到测试样本的第二良率；当全盘磨损的次数达到第三指定磨损次数时，对测试样本进行第三宽温验证，得到测试样本的第三良率；根据初始良率、第一良率、第二良率与第三良率，选择指定读取错误位阈值作为宽温筛选的指标，根据指标对后续原厂颗粒进行宽温筛选。
本发明授权一种闪存宽温的筛选方法及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种闪存宽温的筛选方法，其特征在于，所述方法包括： 提供原厂颗粒，对所述原厂颗粒进行宽温筛选，以获取所述原厂颗粒的读取错误位，根据所述读取错误位，将所述原厂颗粒分为多个读取错误位阈值的测试样本； 根据多个读取错误位阈值的测试样本得到所述测试样本的初始良率； 对所述测试样本进行全盘磨损处理，并实时计数全盘磨损的次数； 当全盘磨损的次数达到第一指定磨损次数时，对所述测试样本进行第一宽温验证，得到所述测试样本的第一良率； 当全盘磨损的次数达到第二指定磨损次数时，对所述测试样本进行第二宽温验证，得到所述测试样本的第二良率； 当全盘磨损的次数达到第三指定磨损次数时，对所述测试样本进行第三宽温验证，得到所述测试样本的第三良率； 根据所述初始良率、所述第一良率、所述第二良率与所述第三良率，选择指定读取错误位阈值作为宽温筛选的指标，根据所述指标对后续原厂颗粒进行宽温筛选。
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