浙江老鹰半导体技术有限公司;杭州开幕光子技术有限公司惠武获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江老鹰半导体技术有限公司;杭州开幕光子技术有限公司申请的专利一种发光芯片可靠性筛选方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120429587B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510926299.1，技术领域涉及：G06F18/20；该发明授权一种发光芯片可靠性筛选方法及系统是由惠武;肖丽文设计研发完成，并于2025-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种发光芯片可靠性筛选方法及系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种发光芯片可靠性筛选方法及系统，采用温度循环和动态电流的复合应力作用方式加速芯片老化，实时采集多项光学和电学性能参数变化值作为失效参数，基于这些参数计算失效风险指数，并与失效风险阈值比对以判断芯片是否合格。此外，通过PCA算法分析关键退化特征，构建失效敏感参数集，并利用迁移学习框架动态优化更新失效风险阈值。本申请大幅缩短了芯片可靠性筛选周期，提高了生产效率；多参数监测和非线性退化路径捕捉能够更快速、准确地识别芯片中的可靠性缺陷；同时，通过PCA算法和迁移学习框架的应用，进一步提升了筛选的准确性和可靠性，为芯片设计和优化提供了有力支持。
本发明授权一种发光芯片可靠性筛选方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种发光芯片可靠性筛选方法，其特征在于，包括： 采用温度循环和动态电流的复合应力作用方式，对待测发光芯片执行老化测试； 在老化测试中实时采集所述待测发光芯片的至少两项光学性能参数变化值和或电学性能参数变化值，作为失效参数； 基于所述失效参数计算所述待测发光芯片的失效风险指数； 比对所述失效风险指数和失效风险阈值，在所述失效风险指数大于或等于所述失效风险阈值的情况下，判断所述待测发光芯片不合格，在所述失效风险指数小于所述失效风险阈值的情况下，判断所述待测发光芯片合格。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人浙江老鹰半导体技术有限公司;杭州开幕光子技术有限公司，其通讯地址为：311800 浙江省绍兴市诸暨市陶朱街道万旺路8号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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