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龙图腾网获悉爱克斯瑞真空技术(苏州)有限公司申请的专利一种X射线透射和背散射一体检测成像方法、系统及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120431122B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510933547.5，技术领域涉及：G06T7/13；该发明授权一种X射线透射和背散射一体检测成像方法、系统及装置是由王炳;王克涵;唐天权设计研发完成，并于2025-07-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种X射线透射和背散射一体检测成像方法、系统及装置在说明书摘要公布了：本申请涉及X射线成像技术领域，具体涉及一种X射线透射和背散射一体检测成像方法、系统及装置，该方法包括：采集待检测目标的背散射图像；获取背散射图像中的各闭合轮廓，提取各闭合轮廓上的各边缘；对于存在闭合轮廓内的各像素点，获取各像素点的离散系数与特征系数，通过所述离散系数与所述特征系数，获取各像素点的邻域大小调节值；构建各像素点的邻域窗口，通过所述邻域大小调节值，结合各像素点的邻域窗口的边长的预设初始值，获取各像素点的邻域窗口的边长的优化值；基于所述优化值，结合滤波算法，对背散射图像进行去噪处理。本申请旨在通过调整邻域窗口的大小，在提高去噪效果的同时，避免过度平滑和细节丢失。

本发明授权一种X射线透射和背散射一体检测成像方法、系统及装置在权利要求书中公布了：1.一种X射线透射和背散射一体检测成像方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： 采集待检测目标的背散射图像； 获取背散射图像中的各闭合轮廓，通过各闭合轮廓上相邻像素点的梯度方向之间的差异，提取各闭合轮廓上的各边缘；对于存在闭合轮廓内的各像素点，通过各像素点所在闭合轮廓内所有像素点的灰度值的离散度，以及闭合轮廓上的不同边缘之间的距离，获取各像素点的离散系数； 预设各像素点的各近邻像素点，通过各像素点所在闭合轮廓上的边缘与所述各近邻像素点之间的位置关系，以及各像素点的预设近邻范围内的边缘数量，获取各像素点的特征系数； 通过所述离散系数与所述特征系数，获取各像素点的邻域大小调节值； 构建各像素点的邻域窗口，通过所述邻域大小调节值，结合各像素点的邻域窗口的边长的预设初始值，获取各像素点的邻域窗口的边长的优化值；基于所述优化值，结合滤波算法，对背散射图像进行去噪处理； 所述邻域大小调节值的计算方法为：将所述特征系数映射为正数，记为映射正数；所述邻域大小调节值为各像素点的离散系数与所述映射正数之比； 所述优化值的获取方法为：计算所述邻域大小调节值的归一化值与所述预设初始值的乘积，所述优化值为所述乘积向下取奇数整数的计算结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人爱克斯瑞真空技术(苏州)有限公司，其通讯地址为：215000 江苏省苏州市高新区木桥街19号2幢5、6层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。