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龙图腾网获悉东京毅力科创株式会社申请的专利温度测量系统和温度测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112697295B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011060754.8，技术领域涉及：G01K11/00；该发明授权温度测量系统和温度测量方法是由吴同;永井健治设计研发完成，并于2020-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本温度测量系统和温度测量方法在说明书摘要公布了：本公开涉及温度测量系统和温度测量方法。对具有第一及与第一主表面相向的第二主表面的测定对象物的温度进行测量，具备：光源部，其产生输出光，所述输出光包括第一及第二波长范围，所述输出光透过测定对象物；测定部，其测定来自第一及第二主表面的反射光的光谱；光程比计算部，其通过对光谱进行傅立叶变换来计算光程比，所述光程比为关于第一波长范围的输出光的光程与关于第二波长范围的输出光的光程之比；以及温度计算部，其基于光程比及预先获取到的折射率比与测定对象物的温度之间的关系来计算测定对象物的温度，所述折射率比为关于第一波长范围的输出光的在测定对象物的折射率与关于第二波长范围的输出光的在测定对象物的折射率。

本发明授权温度测量系统和温度测量方法在权利要求书中公布了：1.一种温度测量系统，用于对具有第一主表面及与所述第一主表面相向的第二主表面的测定对象物的温度进行测量，其特征在于，所述温度测量系统具备： 光源部，其用于产生输出光，所述输出光包括第一波长范围及与所述第一波长范围不同的第二波长范围，所述输出光透过所述测定对象物； 至少一个光学元件，其向所述测定对象物的所述第一主表面射出来自所述光源部的所述输出光，并且来自所述第一主表面和所述第二主表面的反射光入射到该至少一个光学元件； 测定部，其与所述至少一个光学元件连接，来测定依赖于波长的来自所述第一主表面和所述第二主表面的所述反射光的光谱； 光程比计算部，其通过对由所述测定部测定出的所述光谱进行傅立叶变换来计算光程比，所述光程比为关于所述第一波长范围的所述输出光的光程即第一光程与关于所述第二波长范围的所述输出光的光程即第二光程之比；以及 温度计算部，其基于所述光程比及预先获取的折射率比与所述测定对象物的温度之间的关系，来计算所述测定对象物的温度，所述折射率比为关于所述第一波长范围的所述输出光的在所述测定对象物的折射率即第一折射率与关于所述第二波长范围的所述输出光的在所述测定对象物的折射率即第二折射率之比。

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