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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利存储芯片测试方法、计算机设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115240748B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110441989.X，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权存储芯片测试方法、计算机设备及介质是由徐景宏;李垣杰设计研发完成，并于2021-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本存储芯片测试方法、计算机设备及介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种存储芯片测试方法、计算机设备及介质，所述方法包括：响应存储芯片读命令，控制时钟信号在第一预设时间内维持在第一状态的同时，控制互补时钟信号在所述第一预设时间内维持在第二状态；响应维持在第一状态的时钟信号和维持在第二状态的互补时钟信号，数据选通信号在第二预设时间内维持在所述第一状态的同时，互补数据选通信号在第二预设时间内维持在第二状态；当数据选通信号维持在第一状态，且互补数据选通信号维持在第二状态时，控制与所述数据选通终端相连接的第一驱动模块工作并测量第一电阻值，以及控制与互补数据选通终端相连接的第二驱动模块工作并测量第二电阻值。本申请测试方法简单、成本低且测试效果好。

本发明授权存储芯片测试方法、计算机设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片测试方法，其特征在于，包括： 响应存储芯片读命令，控制时钟信号在第一预设时间内维持在第一状态的同时，控制互补时钟信号在所述第一预设时间内维持在第二状态，所述第一状态与所述第二状态互为相反的状态； 响应维持在所述第一状态的所述时钟信号和维持在所述第二状态的所述互补时钟信号，数据选通信号在第二预设时间内维持在所述第一状态的同时，互补数据选通信号在所述第二预设时间内维持在所述第二状态，所述数据选通信号通过所述存储芯片的数据选通终端输出，所述互补数据选通信号通过所述存储芯片的互补数据选通终端输出； 当所述数据选通信号维持在所述第一状态，且所述互补数据选通信号维持在所述第二状态时，控制与所述数据选通终端相连接的第一驱动模块工作并测量第一电阻值，以及控制与所述互补数据选通终端相连接的第二驱动模块工作并测量第二电阻值； 所述第一驱动模块为上拉驱动电路，所述第二驱动模块为下拉驱动电路，所述第一电阻值为测量所述上拉驱动电路所得的等效电阻值，所述第二电阻值为测量所述下拉驱动电路所得的等效电阻值。

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