长鑫存储技术有限公司黄金荣获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利一种芯片测试用固定装置及固定方法、测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115561611B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110744384.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片测试用固定装置及固定方法、测试设备是由黄金荣设计研发完成，并于2021-07-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片测试用固定装置及固定方法、测试设备在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种芯片测试用固定装置及固定方法、测试设备。该装置包括：载具，其内部形成有固定芯片的固定腔，在固定腔的侧壁上设置有多个调节装置，用于在水平面内的两个正交方向上伸缩调节芯片位置；顶盖，用于与载具配合在竖直方向固定芯片；其中，顶盖的下端设置有至少一个可调节压盖，以在竖直方向上自主调节压盖施加给芯片的盖压力。本申请能够适用于多种外形尺寸和厚度的芯片在水平方向及竖直方向的固定，并且在芯片高温测试时能自适应调节压盖压力，避免损坏芯片锡球，影响测试结果。
本发明授权一种芯片测试用固定装置及固定方法、测试设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试用固定装置，其特征在于，包括： 载具，其内部形成有固定待测芯片的固定腔，在所述固定腔的侧壁上设置有多个调节装置，用于在水平面内的两个正交方向上伸缩调节待测芯片位置； 顶盖，用于与载具配合在竖直方向固定待测芯片； 其中，所述顶盖的下端设置有至少一个可调节压盖，以在竖直方向上自主调节压盖施加给待测芯片的盖压力；每个压盖可拆卸的连接有一个或多个垫片，每个压盖与与之连接的垫片之间通过多个弹性体连接，所属压盖与所述顶盖通过螺钉固定连接，每个所述压盖上设置有多个竖直方向的卡槽，每个所述垫片上与卡槽对应位置设置有多个插针，每个所述插针插入到压盖上对应的卡槽中，以使所述垫片仅发生竖直方向上平动运动。
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