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西安电子科技大学许晟瑞获国家专利权

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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种用于制作GaN HEMT的横向金刚石/GaN/金刚石衬底及制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114361013B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-29发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111387283.6,技术领域涉及:H01L21/18;该发明授权一种用于制作GaN HEMT的横向金刚石/GaN/金刚石衬底及制备方法是由许晟瑞;王心颢;贠博祥;卢灏;刘旭;徐爽;张进成;张金风;郝跃设计研发完成,并于2021-11-22向国家知识产权局提交的专利申请。

一种用于制作GaN HEMT的横向金刚石/GaN/金刚石衬底及制备方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种用于制作GaNHEMT的横向金刚石GaN金刚石衬底及制备方法,方法包括:获取两片多晶金刚石,通过抛光将多晶金刚石的其中一面抛光成光滑面;获取GaN单晶晶片,通过抛光将GaN单晶晶片的两面均抛光成光滑面,其中,GaN单晶晶片的光滑面为非极性面;利用低温键合工艺将两片多晶金刚石的光滑面分别与GaN单晶晶片的两个光滑面进行键合,以得到横向多晶金刚石GaN多晶金刚石衬底。本发明改善了传统GaN外延衬底的散热能力,并能提高外延GaN的质量,并进一步提高了器件的工作寿命和稳定性,从而为器件在大功率下的工作奠定了基础,可用于制作高频、大功率GaN基HEMT器件。

本发明授权一种用于制作GaN HEMT的横向金刚石/GaN/金刚石衬底及制备方法在权利要求书中公布了:1.一种用于制作GaNHEMT的横向金刚石GaN金刚石衬底的制备方法,其特征在于,包括以下步骤: 获取两片多晶金刚石,通过抛光将所述多晶金刚石的其中一面抛光成光滑面; 获取GaN单晶晶片,通过抛光将所述GaN单晶晶片的两面均抛光成光滑面,其中,所述GaN单晶晶片是非极性单晶晶片,所述GaN单晶晶片的光滑面为非极性面; 使用CVD工艺,分别在所述GaN单晶晶片和所述多晶金刚石的光滑面上淀积SiN键合层; 控制温度为150℃以下,在气压低于10-5Pa的低真空度下,施加1-100N压力,持续时间为1-10min,以使得所述GaN单晶晶片的两个光滑面分别与两个多晶金刚石的光滑面进行键合; 在300-500℃温度条件下,对键合处理后的所述GaN单晶晶片和所述多晶金刚石进行热退火处理,其中,热退火时间为10-30min; 使用激光切割工艺对热退火处理后的所述GaN单晶晶片和所述多晶金刚石进行纵向切片,以得到若干切片,其中,切片厚度为1-10mm; 将所述切片的单面或双面机械抛光至镜面,以得到横向多晶金刚石GaN多晶金刚石衬底,所述横向金刚石GaN金刚石衬底包括:多晶金刚石1、SiN键合层2、GaN单晶晶片3、SiN键合层4、多晶金刚石5,多晶金刚石1、SiN键合层2、GaN单晶晶片3、SiN键合层4、多晶金刚5自左向右依次排布;所述横向金刚石GaN金刚石衬底的表面的GaN为极性面,并且,所述横向金刚石GaN金刚石衬底的两面均用于进行外延生长,以分别实现Ga面或N面外延。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人西安电子科技大学,其通讯地址为:710000 陕西省西安市雁塔区太白南路2号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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