西安近代化学研究所王芳芳获国家专利权
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龙图腾网获悉西安近代化学研究所申请的专利一种单个散粒体力学性能与细观结构同步表征的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115901579B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211524345.8,技术领域涉及:G01N15/10;该发明授权一种单个散粒体力学性能与细观结构同步表征的方法是由王芳芳;王琼;周文静;贾林;张林军;刘文亮;于思龙设计研发完成,并于2022-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种单个散粒体力学性能与细观结构同步表征的方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种单个散粒体力学性能与细观结构同步表征的方法,该方法适合炸药散粒体、其他含能材料晶体或颗粒材料的力学性能与细观结构同步的表征,其试验流程包括试样准备、试样安装、力学‑光学显微镜组合试验系统参数调节、力学‑光学实时监测试验、散粒体的压缩性能和光学图像分析、力学性能与细观结构同步表征等六个步骤;并设计了一套专用的压缩试验夹具,提出了力学性能与细观结构同步表征的评价依据。本发明监测了单个散粒体在压制过程中的形变特性,试验过程可观察,试验条件更加科学、合理,提高了表征的准确性,同时该方法操作简单,对实验人员要求较低。
本发明授权一种单个散粒体力学性能与细观结构同步表征的方法在权利要求书中公布了:1.一种单个散粒体力学性能与细观结构同步表征的方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一,试样准备:将散粒体粉碎处理成能通过筛孔为5.0mm筛子的颗粒,并剔除掉通过筛孔0.2mm筛子的细小颗粒;对于不需要粉碎处理就可以通过筛孔5.0mm筛子的散粒体,采用原样进行试验; 步骤二,试样安装:在力学载台专用的压缩试验夹具的散粒体粘贴面粘贴双面胶,将单个散粒体放置在双面胶上,起到固定作用,再将压缩试验夹具通过螺母固定到力学载台上,最后将力学载台放置在光学显微镜的载物台上; 步骤三,力学-光学显微镜组合系统参数调节:根据光学显微镜物镜倍数,调节光学显微镜物镜的工作距离和放大倍数,同时调节光源方向、对比度、采集图像所需的采集间隔、采集时间;设置力学试验系统的测试速率、采样间隔时间、压缩模式参数; 步骤四,力学-光学实时监测试验:同时点击力学载台驱动按钮和光学显微镜实时录像按钮,力学试验软件记录散粒体在压缩载荷力作用下的应力、时间、应变参数;光学显微镜实时监测不同形变状态下散粒体的细观结构形貌,待在光学显微镜下观察到试样形变完全,停止驱动按钮和光学显微镜的录像按钮; 步骤五,散粒体的压缩性能和光学图像分析:通过压缩力学试验数据,获得散粒体在压缩力作用下的力-位移曲线和应力-应变曲线,同时由光学显微镜实时记录图像; 通过压缩力学试验数据得到压缩应力、应变公式如下: σ=Fπ·r2 ε=Δll 上式中,σ为应力,F为散粒体压缩过程中的力,r为散粒体的半径,ε为应变,Δl为散粒体当前形变量,l是散粒体的粒径; 通过光学显微镜实时记录图像能同步获得不同形变量即不同位移时对应的光学图像; 步骤六,力学性能与细观结构同步表征:对压缩力学性能和同步获得的光学图像进行同步相关,当前位移所对应的图像序号的关系如下: Δl=lP×n-1 推导出:n=Δll×P+1=ε×P+1 上式中,Δl为散粒体当前形变量即当前位移,l是散粒体的粒径即总位移,P为图像总数,n为图像序号,ε为应变; 根据散粒体的力-位移曲线、应力-应变曲线中的位移和应变,均可推断出对应的光学图像,分析其细观结构。
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