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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利基于原子磁强计的材料磁导率温度稳定性测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116047385B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310019095.0，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权基于原子磁强计的材料磁导率温度稳定性测试装置及方法是由马丹跃;孙博文;陆吉玺;翟跃阳;全伟;马彦宁;王耀国;吕浩然;韩邦成设计研发完成，并于2023-01-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于原子磁强计的材料磁导率温度稳定性测试装置及方法在说明书摘要公布了：基于原子磁强计的材料磁导率温度稳定性测试装置及方法，其特征在于：包括原子磁强计、磁材料层、柔性加热线圈、温度传感器、模拟磁场线圈、磁屏蔽单元、磁场控制模块、温度数据采集模块、温度控制模块、磁强计电路采集控制模块以及多功能上位机，原子磁强计测试磁材料层的磁屏蔽系数，柔性加热线圈将磁材料层加热到特定温度后，原子磁强计测量磁噪声，并将磁噪声带入屏蔽系数与磁导率的关系式计算出不同温度下的材料磁导率，分析材料磁导率温度稳定性，有利于原位测量成型磁屏蔽桶材料的磁导率温度稳定性，同时能有效避免传统磁导率测试方法中的多次测量、线圈匝数影响、测试电压和频率无法灵活调节等问题。

本发明授权基于原子磁强计的材料磁导率温度稳定性测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.基于原子磁强计的材料磁导率温度稳定性测试装置，其特征在于，包括原子磁强计1、磁材料层2、柔性加热线圈3、温度传感器4、模拟磁场线圈5、磁屏蔽单元6、磁场控制模块7、温度数据采集模块8、温度控制模块9、磁强计电路采集控制模块10以及多功能上位机11，原子磁强计1布置于磁材料层2内腔的中心区域并与磁强计电路采集控制模块10相连接，柔性加热线圈3贴于磁材料层2外表面并与温度控制模块9相连接，温度传感器4置于磁材料层2上并与温度数据采集模块8相连接，温度数据采集模块8与温度控制模块9相连接，模拟磁场线圈5与磁场控制模块7相连接，温度控制模块9和磁强计电路采集控制模块10分别连接多功能上位机11，模拟磁场线圈5提供一定频率的磁场信号以计算磁材料层2屏蔽系数，原子磁强计1测量磁噪声，并将磁噪声带入屏蔽系数与磁导率的关系式计算出不同温度下的材料磁导率，分析材料磁导率温度稳定性； 所述磁导率的表达式包括以下磁导率实部μ'T表达式和磁导率虚部μ”T表达式： 其中f1是频率，G是型状因子，kB是玻尔兹曼常数，r是圆柱壳半径，S是屏蔽系数，t是圆柱壳厚度，T是温度，T1是磁材料层2的温度，μ0是真空磁导率，δBmag是原子磁强计1测得的磁噪声。

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