散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所荣林艳获国家专利权
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龙图腾网获悉散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所申请的专利基于同FPGA板卡的低电平控制及功率检测及驻波比保护系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116614932B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310356253.1，技术领域涉及：H05H7/00；该发明授权基于同FPGA板卡的低电平控制及功率检测及驻波比保护系统是由荣林艳;慕振成;傅世年;王林;欧阳华甫;王博;谢哲新;万马良;张辉;王禾欣设计研发完成，并于2023-04-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于同FPGA板卡的低电平控制及功率检测及驻波比保护系统在说明书摘要公布了：本发明涉及粒子加速器技术领域，具体是一种可以实现加速器低电平控制及功率监测的一体化系统的基于同FPGA板卡的低电平控制及功率检测及驻波比保护系统；所述的系统包括设置在同一块FPGA板卡上的加速器低电平控制系统和功率检测及驻波比保护系统，所述的加速器低电平控制系统包括AD采样、直接IQ解调模块、IIR滤波、幅度相位转换模块、PI反馈控制器、数字上变频模块、开关和DAC芯片；所述功率检测及驻波比保护系统包括AD采样、IQ解调模块、IIR滤波、功率计算模块和驻波比保护模块；本发明实现简化了功率检测环节，保证了系统稳定性的同时降低了系统的使用成本，对于信号中夹杂的多频谱分量的功率检测具有优势，具有良好的社会经济效益。
本发明授权基于同FPGA板卡的低电平控制及功率检测及驻波比保护系统在权利要求书中公布了：1.基于同FPGA板卡的低电平控制及功率检测及驻波比保护系统，所述的系统用于实现对加速器低电平控制及功率监测的一体化系统，其特征在于：所述的系统包括设置在同一块FPGA板卡上的加速器低电平控制系统和功率检测及驻波比保护系统，所述的加速器低电平控制系统包括AD采样、直接IQ解调模块、IIR滤波、幅度相位转换模块、PI反馈控制器、数字上变频模块、开关和DAC芯片；所述功率检测及驻波比保护系统包括AD采样、IQ解调模块、IIR滤波、功率计算模块和驻波比保护模块。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所，其通讯地址为：523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区总部二路2号光大数字家庭（推广名：光大we谷）一区1栋1号楼1316号房；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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