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龙图腾网获悉北京华大九天科技股份有限公司申请的专利一种集成电路物理版图中将非45°斜边修复为45°斜边的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118313338B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410418020.4，技术领域涉及：G06F30/3953；该发明授权一种集成电路物理版图中将非45°斜边修复为45°斜边的方法是由杨和岷;张超;于士涛;马海南设计研发完成，并于2024-04-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种集成电路物理版图中将非45°斜边修复为45°斜边的方法在说明书摘要公布了：本申请公开一种集成电路物理版图中将非45°斜边修复为45°斜边的方法，其包括：对每个封闭图形进行分割，以确定连通该每一顶点的最长连续斜边链；对该每条最长连续斜边链上的每个顶点的原始坐标进行仿射变换，得到每个顶点的仿射变换坐标；根据不同顶点之间的仿射变换坐标，确定每个顶点的有效活动范围；根据每个顶点的有效活动范围，确定该每个顶点的候选调整坐标；对所有顶点的候选调整坐标按照第二方向进行依次回溯计算，得到每个顶点的有效调整坐标；对所有顶点的有效调整坐标进行逆变换，得到每个顶点的修复后顶点坐标，以将每条最长连续斜边链上的非45°斜边修复为45°斜边。

本发明授权一种集成电路物理版图中将非45°斜边修复为45°斜边的方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路物理版图中将非45°斜边修复为45°斜边的方法，其特征在于，包括： 确定需要进行斜边修复的图形层以作为输入图像层； 针对所述输入图像层上的每一顶点，确定连通该每一顶点的所有封闭图形，沿着第一方向，遍历所述封闭图形中可从指定的顶点作为起始点出发并与其他顶点之间形成连通的每条边；若该边为斜边，且其对角度小于等于容忍度，则将该边添加到构造的最长连续斜边链，以此类推，直至遍历到所述封闭图形中对角度大于所述容忍度的顶点以作为结束点； 针对每条最长连续斜边链上的所有顶点，执行如下步骤，以确定每个顶点的有效活动范围： 对该每条最长连续斜边链上的每个顶点的原始坐标进行仿射变换，得到每个顶点的仿射变换坐标； 根据不同顶点之间的仿射变换坐标，确定每个顶点的有效活动范围； 针对每个顶点的有效活动范围，执行以下步骤，以将每条最长连续斜边链上的非45°斜边修复为45°斜边： 根据每个顶点的有效活动范围，确定该每个顶点的候选调整坐标； 对所有顶点的候选调整坐标按照第二方向进行依次回溯计算，得到每个顶点的有效调整坐标； 对所有顶点的有效调整坐标进行逆变换，得到每个顶点的修复后顶点坐标，以将每条最长连续斜边链上的非45°斜边修复为45°斜边， 所述第一方向与所述第二方向相反。

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