昆山明创电子科技有限公司李俊武获国家专利权
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龙图腾网获悉昆山明创电子科技有限公司申请的专利一种多用半导体芯片测试治具获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223272556U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-26发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202421756571.3,技术领域涉及:G01R1/04;该实用新型一种多用半导体芯片测试治具是由李俊武;周浪;徐建国;钟雯;叶慎阳;欧阳凡;唐仁;吴泽恩;蔡燕;黎定设计研发完成,并于2024-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多用半导体芯片测试治具在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种多用半导体芯片测试治具,涉及芯片测试技术领域。本实用新型包括机架,所述机架的内侧设置有支撑台,所述机架的表面设置有用于控制支撑台移动的移动调节组件,所述移动调节组件的顶面放置有多个不同规格并用于对芯片进行测试的测试座,所述测试座与测试设备电性连接,所述支撑台的上方设置有用于对芯片进行限位的芯片定位组件,所述机架的表面还设置有用于控制测试座与芯片定位组件进行对接的提升组件,所述移动调节组件包括电机,且电机固定安装在机架的内壁,在使用中实现了便于对芯片进行快速测试的效果,能够根据芯片不同来选择对应的测试座4进行测试,从而扩大了其适用范围,使用起来更加方便灵活。
本实用新型一种多用半导体芯片测试治具在权利要求书中公布了:1.一种多用半导体芯片测试治具,其特征在于,包括机架(1),所述机架(1)的内侧设置有支撑台(3),所述机架(1)的表面设置有用于控制支撑台(3)移动的移动调节组件(2),所述移动调节组件(2)的顶面放置有多个不同规格并用于对芯片进行测试的测试座(4),所述测试座(4)与测试设备电性连接,所述支撑台(3)的上方设置有用于对芯片进行限位的芯片定位组件(6),所述机架(1)的表面还设置有用于控制测试座(4)与芯片定位组件(6)进行对接的提升组件(5)。
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