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龙图腾网获悉泰克诺森斯股份公司申请的专利具有微米级分辨率的非接触式尺寸测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115398181B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180028378.0，技术领域涉及：G01B11/26；该发明授权具有微米级分辨率的非接触式尺寸测量装置是由亚历山德罗·科米内利;马泰奥·佩莱蒂;达尼洛·伦蒂尼设计研发完成，并于2021-03-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本具有微米级分辨率的非接触式尺寸测量装置在说明书摘要公布了：本发明涉及具有微米级分辨率的非接触式尺寸测量装置1，适于测量距设有至少一个反射表面950的物体900的距离。非接触式尺寸测量装置1沿轴线X‑X延伸并包括：i光源2，产生朝物体900的发射光束Le使得反射表面950产生反射光束Lr；ii定位在光源2的相反侧上的光阻隔元件3，及其中，所述光阻隔元件3包括至少一个缝隙30以仅允许反射光束Lr穿过所述缝隙30；iii检测组5，包括：成像传感器50，在成像传感器上检测穿过缝隙30的反射光束Lr的投影500；处理和控制组件51，其操作性连接至成像传感器50并适于分析投影500以确定反射表面950的距离和特征。

本发明授权具有微米级分辨率的非接触式尺寸测量装置在权利要求书中公布了：1.一种具有微米级分辨率的非接触式尺寸测量装置1，所述具有微米级分辨率的非接触式尺寸测量装置1适于对距设置有至少一个反射表面950的物体900的距离进行测量，其中，所述具有微米级分辨率的非接触式尺寸测量装置1沿着轴线X-X延伸，并且所述具有微米级分辨率的非接触式尺寸测量装置1包括： i光源2，所述光源2产生朝向所述物体900的非相干且发散的发射光束Le，以使得所述物体的所述反射表面950产生沿与发射方向基本上相反的反射方向的反射光束Lr； ii光阻隔元件3，所述光阻隔元件3定位在所述光源2的相对于所述发射方向而言相反的侧部上，其中，所述光阻隔元件3包括至少一个缝隙30，所述缝隙30适当地成形为使得所述光阻隔元件3仅允许所述反射光束Lr穿过所述缝隙30； iii检测组5，所述检测组5包括： -成像传感器50，在所述成像传感器50上对穿过所述缝隙30的所述反射光束Lr的投影500进行检测； -处理和控制组件51，所述处理和控制组件51操作性地连接至所述成像传感器50，并且所述处理和控制组件51适于对所述投影500的形状和位置进行分析，以对所述物体900的所述反射表面950的距离和特征进行确定。

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