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龙图腾网获悉精工爱普生株式会社申请的专利用于分光测定装置的方法、分光测定系统、及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114659631B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111575468.X，技术领域涉及：G01J3/26；该发明授权用于分光测定装置的方法、分光测定系统、及存储介质是由广久保望设计研发完成，并于2021-12-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于分光测定装置的方法、分光测定系统、及存储介质在说明书摘要公布了：一种用于分光测定装置的方法、分光测定系统、及存储介质，在获取多个分光图像时，即使是分光测定装置和测定对象的相对位置产生偏移时，也能够抑制该偏移的影响。所述方法具备：第一步骤，确定通过所述分光元件获取的所述多个分光图像中第一分光图像、和所述第一分光图像以外的至少一个的第二分光图像之间的共同的特征点；第二步骤，检测所述第一分光图像和所述第二分光图像之间的相对位置错位量；以及第三步骤，所检测出的所述相对位置错位量，进行所述第一分光图像和所述第二分光图像之间的定位，在所述第三步骤中进行的定位包括：根据所述共同的特征点，相对于所述第一分光图像的位置校正所述第二分光图像的位置。

本发明授权用于分光测定装置的方法、分光测定系统、及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种用于分光测定装置的方法，其特征在于， 所述分光测定装置具备： 分光元件，能够变更要选择的光的波长，对来自对象物的光进行分光；以及 摄像元件，分别接受通过所述分光元件被分光成多种波长的光，获取多个分光图像， 所述方法包括： 第一步骤，确定通过所述分光元件获取的所述多个分光图像中第一分光图像、和所述第一分光图像以外的至少一个的第二分光图像之间的共同的特征点； 第二步骤，检测所述第一分光图像和所述第二分光图像之间的相对位置错位量；以及 第三步骤，根据所检测出的所述相对位置错位量，进行所述第一分光图像和所述第二分光图像之间的定位， 在所述第三步骤中进行的定位包括：根据所述共同的特征点，相对于所述第一分光图像的位置校正所述第二分光图像的位置， 与所述第一分光图像对应的所述光的第一透射峰值的中心波长、和与所述第二分光图像对应的所述光的第二透射峰值的中心波长之间的间隔，是所述第一透射峰值的第一半值总宽或者所述第二透射峰值的第二半值总宽的2倍以下，所述第一分光图像的波峰底部的波形的一部分与所述第二分光图像的波峰底部的波形的一部分重叠。

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