中国科学院微电子研究所张滋黎获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利显微视觉入射光角度标定方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116358451B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111617952.4,技术领域涉及:G01B11/26;该发明授权显微视觉入射光角度标定方法是由张滋黎;孟繁昌;纪荣祎;崔成君;王国名;石俊凯;潘映伶;王博;董登峰;周维虎设计研发完成,并于2021-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本显微视觉入射光角度标定方法在说明书摘要公布了:本发明提供一种显微视觉入射光角度标定方法,包括固定线结构光光源与显微图像采集单元,二者相对位置固定;计算显微图像采集单元放大倍率;设置标定块使线结构光光源发射的线结构光经标定块反射后被显微图像采集单元采集;移动标定块使线结构光投射到第一平面,第一平面反射后被显微图像采集单元采集,在显微图像采集单元像平面上得到第一线结构光像;在同一水平面内移动标定块,使得线结构光投射到第二平面,第二平面反射后被显微图像采集单元采集,在显微图像采集单元像平面上得到第二线结构光像;计算第一线结构光像与第二线结构光像的像间距;计算显微视觉入射光角度。本发明装置制备简单,标定流程简单,可快速完成结构光入射角度的标定。
本发明授权显微视觉入射光角度标定方法在权利要求书中公布了:1.一种显微视觉入射光角度标定方法,其特征在于,包括: 固定线结构光光源与显微图像采集单元,所述线结构光光源与显微图像采集单元相对位置固定; 计算所述显微图像采集单元的放大倍率β1; 设置标定块,使得所述线结构光光源发射的线结构光经所述标定块反射后能被所述显微图像采集单元采集,其中, 所述标定块包括平行的第一平面及第二平面,所述第一平面与第二平面在所述标定块上构成第一台阶,所述第一台阶的高度为H1; 移动所述标定块,使得所述线结构光投射到第一平面,经所述第一平面反射后被所述显微图像采集单元采集,在所述显微图像采集单元的像平面上得到第一线结构光像; 在同一水平面内移动所述标定块,使得所述线结构光投射到第二平面,经所述第二平面反射后被所述显微图像采集单元采集,在所述显微图像采集单元的像平面上得到第二线结构光像; 计算所述第一线结构光像与第二线结构光像的像间距δ1; 计算显微视觉入射光角度θ1: 记θ1为最终标定的显微视觉入射光角度。
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