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龙图腾网获悉长沙金维信息技术有限公司申请的专利芯片FT测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114924912B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210554817.8，技术领域涉及：G06F11/14；该发明授权芯片FT测试方法是由阳文峰;胡月;李满;吴振;郝志杰设计研发完成，并于2022-05-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片FT测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片FT测试方法，包括设计硬件策略：将FT测试划分为核心启动板和功能检测板；核心启动板用于与测试控制台进行信号传递、核心启动固件的装载和功能检测固件的安全引导启动；功能检测板用于功能检测固件的安全存储；设计软件策略：用于在FT测试过程中实现分级固件启动策略、固件安全策略和安全启动策略；分级固件启动策略用于加速测试固件下载和功能切换；固件安全策略用于实现测试固件的安全存储；安全启动策略用于创建安全的测试环境和安全认证。本发明提供的这种芯片FT测试方法，通过创新的FT测试过程和策略设计，不仅快速实现了芯片FT测试，而且可靠性高、实用性好且实施简单方便。

本发明授权芯片FT测试方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片FT测试方法，包括如下步骤： S1.设计硬件策略：将FT测试划分为核心启动板和功能检测板；其中核心启动板用于与测试控制台进行信号传递、核心启动固件的装载和功能检测固件的安全引导启动；功能检测板用于功能检测固件的安全存储； S2.设计软件策略：用于在FT测试过程中实现分级固件启动策略、固件安全策略和安全启动策略；其中，分级固件启动策略用于加速测试固件下载和功能切换；固件安全策略用于实现测试固件的安全存储；安全启动策略用于创建安全的测试环境和安全认证； 所述的固件安全策略，具体包括如下步骤： a.芯片厂家生成固件认证密钥对KA,KB； b.将固件认证密钥KA和厂家信息因子P写入核心启动固件，并将核心启动固件写入核心启动板； c.将功能检测固件通过信息摘要算法计算信息摘要H，再通过厂家信息因子P进行分散，得到分散后的信息M1为M1＝H||P；式中||为将H和P按照固定序列组合成新的信息串M1； d.采用固件认证密钥KB对分散后的信息M1进行签名，得到签名信息S为S＝SignKB,M1；式中Sign为密钥KB对M1进行签名； e.采用固件认证密钥KA对厂家信息因子P进行分散，得到分散密钥KC为 为KA与P的异或算法；将获得的分散密钥KC与签名信息S进行分散，得到加密信息KD为KD＝ENCKC,S；式中ENC为使用密钥KC对S进行加密； f.采用加密信息KD对功能检测固件的启动信息M2和功能检测固件的固件内容M3进行加密，得到密文信息E为E＝ENCKD,M2||M3； g.将签名信息S和密文信息E写入功能检测板中，实现功能检测板的信息保护写入。

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