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龙图腾网获悉中国计量科学研究院申请的专利辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116295850B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310131172.1，技术领域涉及：G01J5/00；该发明授权辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质是由冯国进;王景辉;贺书芳;甘海勇设计研发完成，并于2023-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及辐射测温技术领域，提供一种辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：根据反射光的第一方位角、反射光的第一天顶角以及转换系数，确定第一漫反射比；根据所述第一天顶角、所述转换系数、入射光的第二方位角以及入射光的第二天顶角，确定第二漫反射比；根据所述第一漫反射比和所述第二漫反射比，确定第三漫反射比；根据所述第三漫反射比和设定参数确定被测物体的温度。本发明通过测量任意观测角的第三漫反射比，再基于第三漫反射比进行辐射测温，如此，提高了辐射测温的准确性。

本发明授权辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种辐射测温方法，其特征在于，包括： 根据反射光的第一方位角、反射光的第一天顶角以及转换系数，确定第一漫反射比； 根据所述第一天顶角、所述转换系数、入射光的第二方位角以及入射光的第二天顶角，确定第二漫反射比； 根据所述第一漫反射比和所述第二漫反射比，确定第三漫反射比； 根据所述第三漫反射比和设定参数确定被测物体的温度；所述设定参数包括辐射探测信号、发射率、亮度辐射强度和透射比； 所述根据所述第三漫反射比和设定参数确定被测物体的温度，包括： 根据所述第三漫反射比、所述辐射探测信号、所述发射率、所述亮度辐射强度和所述透射比，确定辐射亮度； 根据所述辐射亮度和所述被测物体的温度的关联关系，确定所述被测物体的温度； 所述根据反射光的第一方位角、反射光的第一天顶角以及转换系数，确定第一漫反射比的公式如下： ； 其中，表示第一漫反射比，表示转换系数，表示反射光的第一方位角，表示反射光的第一天顶角； 所述根据所述第一天顶角、所述转换系数、入射光的第二方位角以及入射光的第二天顶角，确定第二漫反射比的公式如下： ； 其中，表示第二漫反射比，表示转换系数，表示反射光的第一天顶角，表示入射光的第二天顶角，表示入射光的第二方位角； 所述根据所述第一漫反射比和所述第二漫反射比，确定第三漫反射比的公式如下： ； 其中，表示第三漫反射比，表示第一漫反射比，表示转换系数，表示反射光的第一方位角，表示反射光的第一天顶角，表示入射光的第二天顶角，表示入射光的第二方位角； 所述根据所述第三漫反射比、所述辐射探测信号、所述发射率、所述亮度辐射强度和所述透射比，确定辐射亮度的公式如下： ； 其中，表示辐射探测信号，表示透射比，表示发射率，表示温度为的辐射亮度，表示第三漫反射比，表示亮度辐射强度。

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