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龙图腾网获悉深圳市立可自动化设备有限公司申请的专利半导体芯片测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118858892B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410960581.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权半导体芯片测试方法及系统是由周晓龙;刘云峰;陈雨杰;杜海权设计研发完成，并于2024-07-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体芯片测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及集成电路设计和封装的技术领域，公开了半导体芯片测试方法及系统。所述芯片测试方法，应用于测试设备，具体包括以下步骤：S101：接收前序制造端发送的测试请求，所述测试请求携带有待测试的芯片特征数据和所述特征数据的文件格式；S102：识别所述待测试的芯片特征数据的文件格式，并将所述芯片特征数据输入到预设的内容识别模型中进行识别，同时对待测试的芯片进行测试处理。本发明通过预设特征数据与测试出的当前特征数据值进行比对，从而确定所测试的半导体芯片的不足与瑕疵，自动化测试解决了半自动人工芯片测试过程中由于效率不足耗费人力过多，致使测试更准确、更稳定，且所测试的数据更加高效与精准。

本发明授权半导体芯片测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.半导体芯片测试方法，其特征在于，应用于测试设备，具体包括以下步骤： S101：接收前序制造端发送的测试请求，所述测试请求携带有待测试的芯片特征数据和所述特征数据的文件格式； 其中，接收前序制造端发送的测试请求，包括： 通过预设网络接收前序制造端发送的连接请求，所述连接请求用于请求与所述测试设备建立连接； 检测所述前序制造端的当前工序标识，并确定当前工序标识所需测试的内容； 识别已经到位的待测试的芯片，根据确定当前工序标识所需测试的内容进行测试，测试完成后，将所获取的测试数据输送至建立连接的前序制造端上； S102：识别所述待测试的芯片特征数据的文件格式，并将所述芯片特征数据输入到预设的内容识别模型中进行识别，同时对待测试的芯片进行测试处理； 其中，识别所述待测试的芯片特征数据的文件格式，包括： 获取待测试的芯片特征数据，并对待测试的芯片特征数据进行第一次特征识别读取，以确定当前字符格式； 获取当前字符格式的翻译模型，将待测试的芯片特征数据输入至当前字符格式的翻译模型中进行数据内容翻译，以获取当前翻译特征数据； 获取当前翻译特征数据，并对当前翻译特征数据进行第二次特征识别读取，以确定待测试的芯片特征数据的内容； S103：获取所述内容识别模型基于所述芯片特征数据输出的内容识别结果，在所述内容识别结果中，获取所述芯片特征数据的预设特征数据值以及待测试的芯片测试处理后所获取的当前特征数据值； 所述芯片特征数据的预设特征数据值为所需加工出的半导体芯片的理想特征数据，所述测试设备在获取半导体芯片的理想特征数据后，再对半导体芯片进行测试，获取当前特征数据值，完成理想特征数据与当前特征数据值的对比，获取偏位特征； S104：根据所述预设特征数据值生成预设的关联指数生成模型曲线，所述预设的关联指数生成模型曲线包括半导体芯片的物理属性关联数值与通信属性关联数值； S105：获取的当前特征数据值，并将所述当前特征数据值插入至预设的关联指数生成模型曲线中，判断所测试的当前特征数据值与预设的关联指数生成模型曲线的偏位特征，如果所述偏位特征位于所设定的阈值范围内，就根据预先建立半导体芯片和测试设备的对应标识关系，在半导体芯片上建立验证标识； 其中，获取的当前特征数据值，并将所述当前特征数据值插入至预设的关联指数生成模型曲线中，包括： 获取预设特征数据值所生成预设的关联指数生成模型曲线； 获取的当前特征数据值，根据当前特征数据值的物理属性关联数值与通信属性关联数值对应关系，在关联指数生成模型曲线中获取多个当前特征数据值离散点； 链接当前特征数据值离散点，保证所链接的当前特征数据值离散点的斜率与关联指数生成模型曲线相近。

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