中国科学院上海技术物理研究所黄韦斌获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种精密调整45度反射镜安装角度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115657263B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211411118.4，技术领域涉及：G02B7/198；该发明授权一种精密调整45度反射镜安装角度的方法是由黄韦斌;宋志化;侯佳;强佳;周成林;张亮;何志平;舒嵘设计研发完成，并于2022-11-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种精密调整45度反射镜安装角度的方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种精密调整45度反射镜安装角度的方法。所述方法通过电子自准值仪检测45度反射镜的角度，首先借助电子自准值仪将光路的基准转移到平面镜，再将45度反射镜和平面镜的组合光路检测45度反射镜的安装角度，以实时调节45度反射镜安装方向。此方法操作简单，具有高精度，实时性的优势，能够在装调过程中保证光学组件的安装精度。
本发明授权一种精密调整45度反射镜安装角度的方法在权利要求书中公布了：1.一种精密调整45度反射镜安装角度的方法，所述方法采用的装置包括光路基准镜（2）、电子自准直仪（3）、平面反射镜（4），其特征在于所述调整45度反射镜安装角度的方法如下： 该光路基准镜（2）为立方棱镜，电子自准直仪（3）对准光路基准镜（2），调整平面反射镜（4）的方位俯仰，对准光路基准镜（2）和平面反射镜（4）；移动电子自准直仪（3）的位置，对准光路基准镜（2）的另一面，电子自准直仪（3）的光束同时打到光路基准镜（2）和平面反射镜（4），使用平面反射镜（4）作为45度反射镜（1）角度调整的中继，调节45度反射镜（1）的安装角度，在电子自准直仪（3）的显示屏上检测安装精度； 使用电子自准直仪（3）调整平面反射镜（4）的位置后，将光路基准镜（2）和平面反射镜（4）整体作为角度调整光路，在电子自准直仪（3）上实时检测安装角度。
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