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龙图腾网获悉自然资源部第二海洋研究所申请的专利一种水体颗粒衰减系数剖面计算方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120032268B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510503251.X，技术领域涉及：G06V20/13；该发明授权一种水体颗粒衰减系数剖面计算方法及系统是由李腾;张翾;白雁;何贤强;潘天峰;金旭晨;龚芳设计研发完成，并于2025-04-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种水体颗粒衰减系数剖面计算方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种水体颗粒衰减系数剖面计算方法及系统，首先，获取目标水体表层叶绿素浓度与水体颗粒衰减系数之间的对应关系。然后，采用预设算法计算水体区域内每个像元对应的表层叶绿素浓度，并根据对应关系获得每个像元的表层水体颗粒衰减系数；最后，识别每个像元的水体颗粒衰减系数剖面类型，并按照所属剖面类型对应的预设方式计算每个像元的水体颗粒衰减系数剖面数据。采用本发明公开的方法及系统，可基于遥感长时序观测数据评估目标水体当前的水体颗粒衰减系数的剖面数据并构建剖面数据三维场，同时还可回溯历史时段的剖面数据。

本发明授权一种水体颗粒衰减系数剖面计算方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种水体颗粒衰减系数剖面计算方法，其特征在于，包括： 提取目标水体遥感影像中的水体区域； 获取目标水体表层叶绿素浓度与水体颗粒衰减系数之间的对应关系； 采用预设算法计算所述水体区域内每个像元对应的表层叶绿素浓度，并根据所述对应关系获得每个所述像元的表层水体颗粒衰减系数； 识别每个所述像元的水体颗粒衰减系数剖面类型，所述水体颗粒衰减系数剖面类型包括混合均匀型、类高斯型和指数衰减型； 按照所属剖面类型对应的预设方式计算每个所述像元的水体颗粒衰减系数剖面数据，其中，基于贝叶斯最优化方法计算属于类高斯型像元的水体颗粒衰减系数剖面数据；包括： 在像元的水体颗粒衰减系数剖面类型为指数衰减型时，采用以下公式计算水体颗粒衰减系数的剖面数据： cp660z＝cp660surf,zMLD cp660z＝cp660surf×exp-kexpz-MLD，z≥MLD 其中，kexp为预设的常量参数；MLD为所述像元处的混合层深度；z为当前计算的剖面深度；cp660surf为所述像元对应的表层颗粒衰减系数；cp660z为所述像元在剖面深度为z时的水体颗粒衰减系数； 在像元的水体颗粒衰减系数剖面类型为类高斯型时，采用以下公式计算水体颗粒衰减系数的剖面数据： cp660z＝cp660surf×Agau×exp-z-U2D2-Bgau×z+1 其中，z为当前计算的剖面深度；cp660z为所述像元在剖面深度为z时的水体颗粒衰减系数；cp660surf为所述像元对应的表层颗粒衰减系数；Agau，Bgau，U，D分别为采用贝叶斯最优化方法确定的常量参数。

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