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龙图腾网获悉北京市大唐盛兴科技发展有限公司申请的专利基于半导体介质分析的手持电子产品探测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120074690B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510550352.2，技术领域涉及：H04B17/00；该发明授权基于半导体介质分析的手持电子产品探测方法及装置是由张多辉设计研发完成，并于2025-04-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于半导体介质分析的手持电子产品探测方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了基于半导体介质分析的手持电子产品探测方法及装置，其中，方法包括：发射多频段电磁激励信号；接收目标检测对象对多频段电磁激励信号的响应信号；对响应信号进行处理以提取响应特征；基于响应特征，在半导体元器件特征数据库中进行特征匹配，获取特征匹配结果，判断目标检测对象是否含有电子设备；当判断目标检测对象含有电子设备时，通过声光单元进行示警。本申请解决了现有技术中无法有效检测出各种状态下的电子设备的技术问题，达到了通过半导体介质特征分析实现对各种状态下电子设备的准确探测并及时示警的技术效果。

本发明授权基于半导体介质分析的手持电子产品探测方法及装置在权利要求书中公布了：1.基于半导体介质分析的手持电子产品探测方法，其特征在于，包括： 发射多频段电磁激励信号，所述多频段电磁激励信号包括低频段电磁激励信号、中频段电磁激励信号和高频段电磁激励信号； 接收目标检测对象对所述多频段电磁激励信号的响应信号； 对所述响应信号进行处理以提取响应特征，所述响应特征包括频谱特征、谐波特征、阻抗特征和相位特征； 基于所述响应特征，在半导体元器件特征数据库中进行特征匹配，获取特征匹配结果； 根据所述特征匹配结果判断所述目标检测对象是否含有电子设备； 当判断所述目标检测对象含有电子设备时，通过声光单元进行示警； 对所述响应信号进行处理以提取响应特征，包括： 对所述响应信号进行预处理，获得预处理后的响应信号； 对所述预处理后的响应信号进行时域分析和频域分析，获取时域分析结果和频域分析结果；从所述频域分析结果中提取所述频谱特征和谐波特征； 基于所述时域分析结果和频域分析结果提取所述阻抗特征和相位特征； 在所述基于所述响应特征，在半导体元器件特征数据库中进行特征匹配，获取特征匹配结果之前，包括以下步骤： 获取多个电子设备样本，其中，多个电子设备样本包括不同种类、不同品牌和不同型号的电子设备； 设备多种设备工作状态，其中，多种设备工作状态包括开机状态、关机状态、移除电池状态和移除SIM卡状态； 在正常电磁环境下，根据多频段电磁激励信号、多个电子设备样本和多种设备工作状态，构建导体元器件特征数据库。

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