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成都光创联科技有限公司卢广荣获国家专利权

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龙图腾网获悉成都光创联科技有限公司申请的专利一种光器件缺陷检测方法与系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120125580B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510602735.X,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种光器件缺陷检测方法与系统是由卢广荣;熊伟霖;刘伟;徐迎;许远忠;张强;李惠敏设计研发完成,并于2025-05-12向国家知识产权局提交的专利申请。

一种光器件缺陷检测方法与系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种光器件缺陷检测方法与系统,属于计算机视觉技术领域。本发明通过采集若干已知缺陷光器件的图像和性能参数,构建基础训练集;使用基础训练集对Transformer模型进行训练,获得缺陷检测模型;采集待检测器件的图像和性能参数,输入所述缺陷检测模型进行检测,获得外观缺陷检测结果、性能缺陷检测结果及外观缺陷区域坐标。本发明通过系统化的数据驱动训练和多模态信息融合,有效地提高了缺陷检测模型在光器件缺陷检测中的整体性能,显著提升了光器件缺陷检测的准确性和效率。

本发明授权一种光器件缺陷检测方法与系统在权利要求书中公布了:1.一种光器件缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤: S1,采集若干已知缺陷光器件的图像和性能参数,构建基础训练集;所述性能参数包括光功率、光谱平坦度、电流、电压以及阻抗; S2,使用基础训练集对Transformer模型进行训练,获得缺陷检测模型; 所述S2具体包括: S21,对所述基础训练集进行标准化处理,获得多个预处理图像和多组预处理参数向量; S22:对每个所述预处理图像进行特征编码,获得对应的图像特征向量;对每组所述预处理参数向量进行特征编码,获得对应的参数特征向量; S23,将图像特征向量和对应的参数特征向量拼接后,输入Transformer模型进行特征提取处理,获得外观缺陷预测结果、外观缺陷区域坐标以及性能缺陷预测结果; S24,利用贝叶斯优化策略对Transformer模型的参数进行优化以及对Transformer模型重训练,获得所述缺陷检测模型; S3,采集待检测器件的图像和性能参数,输入所述缺陷检测模型进行检测,获得外观缺陷检测结果、性能缺陷检测结果及外观缺陷区域坐标。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人成都光创联科技有限公司,其通讯地址为:610000 四川省成都市高新区西区大道199号C1栋3层;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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