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龙图腾网获悉南京邮电大学;中国电子科技集团公司第五十八研究所申请的专利一种用于3D IC中的ILV故障定位优化的内建自测试电路及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120142912B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510631238.2，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种用于3D IC中的ILV故障定位优化的内建自测试电路及方法是由蔡志匡;晁翊轩;嵇苏宁;解维坤;孙海燕;宋国栋;陈龙;林晓会;陈诚;季伟伟;刘小婷;严大鹏;王子轩;郭宇锋设计研发完成，并于2025-05-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于3D IC中的ILV故障定位优化的内建自测试电路及方法在说明书摘要公布了：本发明属于集成电路设计与测试技术领域，公开了一种用于3DIC中的ILV故障定位优化的内建自测试电路及方法，所述电路包括BIST模式生成模块、信号传输模块、故障捕获模块、故障定位模块，通过生成针对不同故障类型的测试模式、控制信号的单向传播以及扫描连捕获定位故障信号，能够高效地检测并定位ILV故障。本发明适用于高密度、非规则ILV布局，无需额外的测试端口，与传统测试方法相比，本发明的测试时间短，且故障定位的精度高，同时减少了硬件资源的消耗，进一步提高了3D集成电路的可靠性和生产效率。

本发明授权一种用于3D IC中的ILV故障定位优化的内建自测试电路及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于3DIC中的ILV故障定位优化的内建自测试电路，其特征在于，包括BIST模式生成模块、信号传输模块、故障捕获模块和故障定位模块， 所述BIST模式生成模块负责生成针对不同故障类型的测试模式，用以检测不同类型的ILV故障； 所述信号传输模块负责将测试信号稳定传输至故障捕获模块； 所述故障捕获模块对来自多个ILV的响应信号进行同步分析，并将测试结果传递至故障定位模块； 所述故障定位模块利用扫描链机制对检测到的故障进行精确定位并存储； 其中，所述故障捕获模块包括XOR-OR组合逻辑网络和数据选择器MUX； 所述XOR-OR组合逻辑网络由两层逻辑构成：第一层为异或门XOR阵列，用于检测相邻ILV之间的短路；第二层为或门OR阵列，用于整合异或门的输出结果并生成故障标志； 每个ILV信号通过MUX连接到XOR-OR组合逻辑网络的输入引脚；输入引脚数为n，即n=2^k，其中k是非负整数，则相邻两个引脚对应的ILV信号会被输入到一个异或门中； 当相邻ILVs之间发生短路时，两者的信号在测试模式下将保持相同，导致异或门输出为逻辑0； 所有异或门的输出进一步连接到或门，相邻两个异或门的输出作为一个或门的输入。

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