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龙图腾网获悉齐鲁工业大学(山东省科学院)申请的专利近红外二区分子荧光探针发光性能评价方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120199343B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510676826.8，技术领域涉及：G16C10/00；该发明授权近红外二区分子荧光探针发光性能评价方法及系统是由张玉瑾;董玲玲;胡伟;张静;张美娜设计研发完成，并于2025-05-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本近红外二区分子荧光探针发光性能评价方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种近红外二区分子荧光探针发光性能评价方法及系统，涉及荧光探针技术领域，该方法包括：获取近红外二区分子荧光探针在水溶液中的初始构型，对初始构型进行分子动力学模拟，得到探针在水溶液中的多个代表性构象；对每个代表性构象进行量子化学计算，得到每个代表性构象在稳定态下的第一系统能量、在最低单重激发态下的第二系统能量和强度参数；基于第一系统能量、第二系统能量和强度参数生成综合评价因子；基于综合评价因子对探针的发光性能进行排序，并筛选出性能最优的探针。本发明提供的方法实现对近红外二区分子荧光探针发光性能的定量评估，为探针的优化设计与临床应用提供技术支持。

本发明授权近红外二区分子荧光探针发光性能评价方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种近红外二区分子荧光探针发光性能评价方法，其特征在于，包括： S1：获取近红外二区分子荧光探针在水溶液中的初始构型，对初始构型进行分子动力学模拟，得到探针在水溶液中的多个代表性构象； S2：对每个代表性构象进行量子化学计算，得到每个代表性构象在稳定态下的第一系统能量、在最低单重激发态下的第二系统能量和强度参数； S3：基于所述第一系统能量、第二系统能量和强度参数生成综合评价因子； 所述S3包括： S3.1：计算第一系统能量E a和第二系统能量E b之间的能量差E； S3.2：将能量差E与强度参数I进行关联分析，通过数学建模生成综合评价因子X； 所述S3.2包括： S3.2.1：统计n个代表性构象的强度参数I 1，I 2，I 3...I n和能量参数E 1，E 2，E 3...E n； S3.2.2：构建强度矩阵和能量矩阵，其矩阵元分别为和，其中； S3.2.3：将矩阵I和E相加得到矩阵，矩阵元，； S3.2.4：以矩阵C每一行的行和作为被减数，以2n为减数，作差得到修正因子，； S3.2.5：基于上述数据生成综合评价因子； S4：基于综合评价因子对探针的发光性能进行排序，并筛选出性能最优的探针。

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