中国科学院长春光学精密机械与物理研究所李龙响获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利光学系统指标诱导确定性抛光工艺参数方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120228600B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510700134.2，技术领域涉及：B24B1/00；该发明授权光学系统指标诱导确定性抛光工艺参数方法是由李龙响;刘夕铭;李兴昶;程强;张峰;张学军设计研发完成，并于2025-05-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本光学系统指标诱导确定性抛光工艺参数方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学加工技术领域，尤其涉及一种光学系统指标诱导确定性抛光工艺参数方法，方法包括：确定光学系统的结构，在光学系统中确定需要控制中频误差的理想光学元件；计算理想光学元件在不同工艺参数下产生的刀痕特征图；根据刀痕特征图，生成不同工艺参数对应的光学元件矢高图；将不同的光学元件矢高图替换理想光学元件，获取不同光学元件矢高图对应的光学系统的系统评价指标；选择最优的系统评价指标，其对应的工艺参数即最优工艺参数。本发明将需要控制中频误差的光学元件的工艺参数与系统评价指标一一对应，确定最优的系统评价指标，其对应的工艺参数即最优工艺参数，进而实现由光学系统成像质量决定的最优制造工艺参数。
本发明授权光学系统指标诱导确定性抛光工艺参数方法在权利要求书中公布了：1.一种光学系统指标诱导确定性抛光工艺参数方法，其特征在于，包括： S1：确定光学系统的结构，在所述光学系统中确定需要控制中频误差的理想光学元件； S2：计算步骤S1确定的理想光学元件在不同工艺参数下产生的刀痕特征图； S3：根据步骤S2得到的刀痕特征图，生成不同工艺参数对应的光学元件矢高图； S4：将不同的光学元件矢高图替换步骤S1的光学系统的理想光学元件，获取不同光学元件矢高图对应的光学系统的系统评价指标； S5：选择步骤S4得到的最优的系统评价指标，其对应的工艺参数即最优工艺参数。
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