普赛微科技(杭州)有限公司蒋信获国家专利权
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龙图腾网获悉普赛微科技(杭州)有限公司申请的专利集成电路测试方案的自动化生成方法和系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113468301B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110667619.8,技术领域涉及:G06F16/3329;该发明授权集成电路测试方案的自动化生成方法和系统是由蒋信;刘瑞盛;喻涛;李泽设计研发完成,并于2021-06-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本集成电路测试方案的自动化生成方法和系统在说明书摘要公布了:本申请公开了一种集成电路产品的自动化测试方法和系统,涉及芯片测试技术,方法包括以下步骤:获取集成电路产品的技术文档;从所述技术文档中提取多个技术规格,根据多个所述技术规格生成测试计划文档;根据所述测试计划文档选择目标自动测试设备;根据所述测试计划文档和所述目标自动测试设备生成针对所述测试计划文档中各测试项的测试程序;在所述目标自动测试设备中运行所述测试程序以对所述集成电路产品进行测试。本申请可以提高集成电路产品的测试效率。
本发明授权集成电路测试方案的自动化生成方法和系统在权利要求书中公布了:1.一种集成电路产品的自动化测试方法,其特征在于,包括以下步骤: 获取集成电路产品的技术文档; 从所述技术文档中提取多个技术规格,根据多个所述技术规格生成测试计划文档; 将所述测试计划文档中的至少部分信息输入机器学习分类器,得到选中的目标自动测试设备; 根据所述测试计划文档和所述目标自动测试设备生成针对所述测试计划文档中各测试项的测试程序,具体包括将所述测试计划文档中各测试项对应的信息和所述目标自动测试设备的信息输入代码生成模型中,得到集成电路产品的测试程序; 在所述目标自动测试设备中运行所述测试程序以对所述集成电路产品进行测试; 其中,提取技术规格、选择目标自动测试设备、生成测试程序中的至少一个步骤利用机器学习的方法自动完成。
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