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龙图腾网获悉成都海光微电子技术有限公司申请的专利一种数据分析方法及相关装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114282712B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111471105.1，技术领域涉及：G06Q10/04；该发明授权一种数据分析方法及相关装置是由詹扬扬设计研发完成，并于2021-12-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种数据分析方法及相关装置在说明书摘要公布了：本申请实施例提供一种数据分析方法及相关装置，包括：确定所述WIP数据的各个站点中的当前站点；获取所述当前站点的当前晶圆生产周期和当前站点异常判断模型，其中，所述当前晶圆生产周期为所述WIP数据中的所述当前站点的各个晶圆生产周期，所述当前站点异常判断模型为预先训练完成的所述当前站点的站点异常判断模型；利用所述当前站点异常判断模型，当确定所述当前晶圆生产周期中包括异常晶圆生产周期时，得到所述异常晶圆生产周期，并确定所述当前站点的预测状态信息为异常。本申请实施例所提供的数据分析方法及相关装置，可实现提高集成电路生产数据分析的准确性和实时性。

本发明授权一种数据分析方法及相关装置在权利要求书中公布了：1.一种数据分析方法，其特征在于，适用于WIP数据的分析，所述WIP数据包含多个站点的芯片生产数据，包括： 确定所述WIP数据的各个站点中的当前站点； 获取所述当前站点的当前晶圆生产周期和当前站点异常判断模型，其中，所述当前晶圆生产周期为所述WIP数据中的所述当前站点的各个晶圆生产周期，所述当前站点异常判断模型为预先训练完成的所述当前站点对应的站点异常判断模型； 利用所述当前站点异常判断模型，确定当前晶圆生产周期中是否包括异常晶圆生产周期，当确定所述当前晶圆生产周期中包括异常晶圆生产周期时，得到所述异常晶圆生产周期，并确定所述当前站点的预测状态信息为异常； 其中，所述当前站点异常判断模型的获取步骤包括： 获取各历史WIP数据中所述当前站点的各个历史晶圆生产周期，和与各所述历史WIP数据对应的所述当前站点的各历史晶圆生产周期的基准状态； 对应于各所述历史WIP数据，利用所述当前站点异常判断模型，根据各所述历史晶圆生产周期，获取所述当前站点的各所述历史晶圆生产周期训练状态信息； 当对应于各所述历史WIP数据的各所述历史晶圆生产周期的所述训练状态信息和所述基准状态信息的损失满足损失阈值时，得到训练完成的所述当前站点异常判断模型。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人成都海光微电子技术有限公司，其通讯地址为：610041 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天府大道中段1366号2栋天府软件园E5座12层23-32号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。