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安徽大学赵强获国家专利权

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龙图腾网获悉安徽大学申请的专利一种基于极性加固技术的12T抗辐照SRAM存储单元获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114496025B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210068744.1,技术领域涉及:G11C11/413;该发明授权一种基于极性加固技术的12T抗辐照SRAM存储单元是由赵强;李正亚;高珊;郝礼才;彭春雨;卢文娟;吴秀龙;蔺智挺;陈军宁设计研发完成,并于2022-01-20向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于极性加固技术的12T抗辐照SRAM存储单元在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于极性加固技术的12T抗辐照SRAM存储单元,包括4个NMOS晶体管和8个PMOS晶体管;内部存储节点I2和I3由P2和P3交叉耦合,外部存储节点I1和I4由N1和N2交叉耦合;P1和P4作为上拉管,P1和P4对I2和I3进行加固,I2和I3全部由PMOS晶体管包围,这构成了极性加固结构;I2通过P7连接到第BLB,I3通过P8连接到BL,I1通过N3连接到BL,I4通过N4连接到BLB,N3和N4由WL控制,P7和P8由WWL控制。本发明能够提高SRAM存储单元的抗单粒子翻转能力,而且可以在牺牲较小单元面积的情况下大幅提高SRAM存储单元写速度,降低了SRAM存储单元的功耗。

本发明授权一种基于极性加固技术的12T抗辐照SRAM存储单元在权利要求书中公布了:1.一种基于极性加固技术的12T抗辐照SRAM存储单元,其特征在于,包括4个NMOS晶体管和8个PMOS晶体管,这4个NMOS晶体管分别定义为N1、N2、N3、N4;这8个PMOS晶体管分别定义为P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7、P8; 内部存储节点I2和内部存储节点I3由PMOS晶体管P2和PMOS晶体管P3交叉耦合,外部存储节点I1和外部存储节点I4由NMOS晶体管N1和NMOS晶体管N2交叉耦合;PMOS晶体管P1和PMOS晶体管P4作为上拉管,NMOS晶体管N1和NMOS晶体管N2作为下拉管;PMOS晶体管P1和PMOS晶体管P4对内部存储节点I2和内部存储节点I3进行加固,内部存储节点I2和内部存储节点I3由PMOS晶体管P1-P8包围,这构成了极性加固结构;内部存储节点I2通过PMOS晶体管P7连接到第二位线BLB,内部存储节点I3通过PMOS晶体管P8连接到第一位线BL,外部存储节点I1通过NMOS晶体管N3连接到第一位线BL,外部存储节点I4通过NMOS晶体管N4连接到第二位线BLB,NMOS晶体管N3和NMOS晶体管N4由第一字线WL控制,PMOS晶体管P7和PMOS晶体管P8由第二字线WWL控制; 其中,PMOS晶体管P2的漏极与PMOS晶体管P3的栅极、PMOS晶体管P5的源极电连接于内部存储节点I2,PMOS晶体管P5的漏极接地,PMOS晶体管P3的漏极与PMOS晶体管P2的栅极、PMOS晶体管P6的源极电连接于内部存储节点I3,PMOS晶体管P6的漏极接地;NMOS晶体管N1的漏极与NMOS晶体管N2的栅极、PMOS晶体管P6的栅极电连接于外部存储节点I1,NMOS晶体管N1的源极接地,NMOS晶体管N2的漏极与NMOS晶体管N1的栅极、PMOS晶体管P5的栅极电连接于外部存储节点I4,NMOS晶体管N2的源极接地;PMOS晶体管P1的源极接电压VDD,PMOS晶体管P1的栅极与内部存储节点I2电连接,PMOS晶体管P1的漏极与外部存储节点I1、PMOS晶体管P3的源极电连接;PMOS晶体管P4的源极接电压VDD,PMOS晶体管P4的栅极与内部存储节点I3电连接,PMOS晶体管P4的漏极与外部存储节点I4、PMOS晶体管P2的源极电连接; PMOS晶体管P7的漏极与内部存储节点I2电连接,PMOS晶体管P7的源极与第二位线BLB电连接,PMOS晶体管P7的栅极与第二字线WWL电连接;PMOS晶体管P8的漏极与内部存储节点I3电连接,PMOS晶体管P8的源极与第一位线BL电连接,PMOS晶体管P8的栅极与第二字线WWL电连接; NMOS晶体管N3的漏极与外部存储节点I1电连接,NMOS晶体管N3的源极与第一位线BL电连接,NMOS晶体管N3的栅极与第一字线WL电连接;NMOS晶体管N4的漏极与外部存储节点I4电连接,NMOS晶体管N4的源极与第二位线BLB电连接,NMOS晶体管N4的栅极与第一字线WL电连接。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人安徽大学,其通讯地址为:230601 安徽省合肥市经济开发区九龙路111号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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