长江存储科技有限责任公司郑文凯获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉长江存储科技有限责任公司申请的专利半导体结构的缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114549450B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210148665.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权半导体结构的缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质是由郑文凯;陈金星;陈广甸;汪严莉设计研发完成，并于2022-02-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体结构的缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请实施方式提供了一种半导体结构的缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质。部分实施例中，半导体结构的缺陷检测方法包括：识别半导体结构的待测图像中的沟道孔的边界轮廓的凸点；确定凸出程度最大的凸点与其对应的参考点之间的偏移距离；以及根据所确定出的偏移距离确定沟道孔的缺陷程度。本申请实施方式提供的半导体结构的缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质可检测半导体结构的沟道孔的缺陷。
本发明授权半导体结构的缺陷检测方法、装置、检测设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种半导体结构的缺陷检测方法，其特征在于，包括： 识别所述半导体结构的待测图像中的沟道孔的边界轮廓的凸点和凹点； 确定凸出程度最大的凸点与其对应的参考点之间的偏移距离；以及 根据所确定出的偏移距离确定所述沟道孔的缺陷程度； 其中，确定所述凸出程度最大的凸点包括： 确定各个所述凹点至与所述凹点相邻的两个凸点之间的连线的垂直距离，并从所述凹点中确定出与相邻两个凸点之间的垂直距离最大的第一凹点；以及， 从与所述第一凹点相邻的两个凸点中确定出所述凸出程度最大的凸点。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人长江存储科技有限责任公司，其通讯地址为：430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号